一种XRD图谱自动寻峰方法

专利号：CN202310633155.8

公布日：2023-10-27

申请人：中国矿业大学（北京）

一种X射线衍射矿物定量分析参比强度计算方法

专利号：CN202210392475.4

公布日：2023-10-27

申请人：中国石油天然气股份有限公司

电子束探测装置、探测组件和校准方法

专利号：CN202210409220.4

公布日：2023-10-27

申请人：华为技术有限公司

一种考虑非均质性的页岩气藏流固耦合热应力确定方法

专利号：CN202210384104.1

公布日：2023-10-27

申请人：中国石油天然气股份有限公司

一种pXRF对岩心元素测试的质量控制方法及装置

专利号：CN202310969167.8

公布日：2023-10-27

申请人：自然资源实物地质资料中心

一种用于中子散射的样品测量定位系统

专利号：CN202321004243.3

公布日：2023-10-27

申请人：散裂中子源科学中心;中国科学院高能物理研究所

同步辐射光源XRD-PDF联用探测器台架结构

专利号：CN202310922153.0

公布日：2023-10-24

申请人：深圳综合粒子设施研究院

一种广角弧形探测器角度标定和误差分析方法

专利号：CN202310719694.3

公布日：2023-10-24

申请人：中国科学院高能物理研究所

一种酸消解-能量色散X射线荧光光谱法测定铜及铜合金中铜含量的方法

专利号：CN202310648967.X

公布日：2023-10-24

申请人：鹰潭市检验检测认证院（鹰潭市综合检验检测中心、江西省铜及铜产品质量检验检测中心）

一种用于印刷电路板的X射线检测装置及其检测方法

专利号：CN202311200820.0

公布日：2023-10-24

申请人：深圳市康姆智能装备有限公司

测量单晶晶向的方法、系统及介质

专利号：CN202210343742.9

公布日：2023-10-24

申请人：上海交通大学

一种岩石中玻璃质的测定方法、装置、设备和存储介质

专利号：CN202210322238.0

公布日：2023-10-24

申请人：中国石油天然气股份有限公司

一种半峰宽自动化测试工装

专利号：CN202111075162.8

公布日：2023-10-24

申请人：中国电子科技集团公司第十一研究所

一种脉冲磁场处理对金属零件微观组织影响的分析方法

专利号：CN202010477831.3

公布日：2023-10-24

申请人：中国人民解放军陆军装甲兵学院

用于碳化硅晶体硅面的定向装置

专利号：CN202320992606.2

公布日：2023-10-24

申请人：江苏集芯先进材料有限公司