对光谱测量设备进行仿真

专利号：CN201880091879.1

公布日：2020-11-13

申请人：惠普发展公司，有限责任合伙企业

光谱测量装置、图像形成装置以及光谱测量方法

专利号：CN201610162747.6

公布日：2019-01-01

申请人：精工爱普生株式会社

远程控制光谱仪的系统

专利号：CN201980062700.4

公布日：2021-05-07

申请人：格林特罗皮斯姆公司

基于F-P标准具的瞬态高分辨率光谱仪

专利号：CN201510366145.8

公布日：2018-07-13

申请人：北京师范大学

一种光谱测量装置和光学检测设备

专利号：CN202222097159.2

公布日：2022-09-23

申请人：武汉加特林光学仪器有限公司

水体表观光谱测量装置及其测量方法

专利号：CN201811513053.8

公布日：2019-03-19

申请人：深圳市中达瑞和科技有限公司

一种井中高光谱测量系统及测量方法

专利号：CN201811606087.1

公布日：2019-03-29

申请人：核工业北京地质研究院

一种井中高光谱测量系统

专利号：CN201822206348.2

公布日：2019-10-22

申请人：核工业北京地质研究院

一种提高光通量的光谱测量方法及系统

专利号：CN201410514190.9

公布日：2016-11-02

申请人：上海交通大学

一种提高光通量的光谱测量装置

专利号：CN201420568923.2

公布日：2015-01-21

申请人：上海交通大学

一种导光控制面板的光谱测量装置

专利号：CN202320964402.8

公布日：2023-09-26

申请人：飞朗（天津）航空技术有限公司

一种可视瞄准光谱测量装置和光学检测设备

专利号：CN202222097012.3

公布日：2022-09-23

申请人：武汉加特林光学仪器有限公司

一种光谱测量辅助装置

专利号：CN202110752712.9

公布日：2021-10-01

申请人：中国科学院空天信息创新研究院

一种基于光谱分析的多粒径泥沙沉速的测量方法及系统

专利号：CN202310466587.4

公布日：2023-08-15

申请人：上海勘测设计研究院有限公司

水体表观光谱测量装置

专利号：CN201822077590.4

公布日：2019-11-15

申请人：深圳市中达瑞和科技有限公司