内存测试方法、装置、设备及存储介质

专利号：CN202110609485.4

公布日：2022-12-06

申请人：长鑫存储技术有限公司

一种服务器内存测试方法、装置、系统、终端及介质

专利号：CN202310090351.5

公布日：2023-05-09

申请人：苏州浪潮智能科技有限公司

内存质量检测方法及系统

专利号：CN202310594223.4

公布日：2023-09-15

申请人：苏州浪潮智能科技有限公司

内存可靠性测试方法、系统、计算机设备和存储介质

专利号：CN202211138631.0

公布日：2022-12-16

申请人：苏州浪潮智能科技有限公司

一种内存测试方法、装置和系统

专利号：CN202210467000.7

公布日：2022-07-22

申请人：苏州浪潮智能科技有限公司

内存测试装置及内存测试方法

专利号：CN200710137283.4

公布日：2008-09-03

申请人：环达电脑（上海）有限公司

内存测试方法

专利号：CN201910683860.2

公布日：2021-02-02

申请人：第一检测有限公司

一种内存测试方法及系统

专利号：CN201910591215.8

公布日：2019-11-22

申请人：深圳市金泰克半导体有限公司

内存测试方法、装置、设备及存储介质

专利号：CN202310004896.X

公布日：2023-04-18

申请人：长鑫存储技术有限公司

一种内存测试装置和内存测试方法

专利号：CN202111350027.X

公布日：2023-05-16

申请人：长鑫存储技术有限公司

内存自动化测试与分级方法

专利号：CN201811549868.1

公布日：2019-05-03

申请人：曙光信息产业股份有限公司

一种内存测试方法、系统、装置及可读存储介质

专利号：CN202310028649.3

公布日：2023-04-25

申请人：深圳市章江科技有限公司

内存测试方法及装置

专利号：CN201611218265.4

公布日：2018-07-03

申请人：迈普通信技术股份有限公司

一种内存测试方法及嵌入式设备

专利号：CN201210558256.5

公布日：2013-03-27

申请人：迈普通信技术股份有限公司

一种内存测试方法及设备

专利号：CN201210416948.6

公布日：2013-02-13

申请人：华为技术有限公司