失效检测方法以及失效检测装置

专利号：CN200910194791.5

公布日：2011-04-06

申请人：中芯国际集成电路制造(上海)有限公司

车辆失效分析系统、车辆失效分析设备及车辆失效分析方法

专利号：CN200910135295.2

公布日：2009-11-25

申请人：丰田自动车株式会社

材料失效分析方法

专利号：CN201610398677.4

公布日：2019-03-29

申请人：上汽通用汽车有限公司;泛亚汽车技术中心有限公司

芯片失效模式的确定方法、终端

专利号：CN202111005924.7

公布日：2021-12-21

申请人：全芯智造技术有限公司

功率器件的失效分析方法

专利号：CN202010210630.7

公布日：2020-07-03

申请人：上海华虹宏力半导体制造有限公司

元器件失效分析专家系统中失效分析流程构建方法及系统

专利号：CN201310464433.8

公布日：2014-01-15

申请人：工业和信息化部电子第五研究所

关联失效影响下的页岩气压裂管柱风险排序方法及装置

专利号：CN201610051176.9

公布日：2019-11-19

申请人：中国石油大学(北京)

失效地址处理方法、装置及电子设备

专利号：CN202310225514.6

公布日：2023-08-04

申请人：长鑫存储技术有限公司

电学失效分析方法及相关装置

专利号：CN202111470371.2

公布日：2022-04-05

申请人：成都海光微电子技术有限公司

产品失效知识库建立方法与失效分析方法、装置、介质

专利号：CN201811376387.5

公布日：2022-11-25

申请人：长鑫存储技术有限公司

基于失效机理的元器件FMEA分析方法与系统

专利号：CN201410401825.4

公布日：2014-11-26

申请人：工业和信息化部电子第五研究所

非对称共因失效条件下系统可靠性建模方法及装置

专利号：CN202310252028.3

公布日：2023-06-23

申请人：广州大学

一种海水管路的裂纹失效分析方法

专利号：CN202310497453.9

公布日：2023-08-29

申请人：上海船舶工艺研究所（中国船舶集团有限公司第十一研究所）

一种镜像失效判断电路及应用其的电器设备

专利号：CN202022837654.3

公布日：2021-10-22

申请人：华帝股份有限公司

一种芯片的失效分析方法及系统

专利号：CN202211194766.9

公布日：2022-12-09

申请人：合肥晶合集成电路股份有限公司