一种大口径平面镜拼接检测对准方法

专利号：CN201610820991.7

公布日：2018-09-25

申请人：湖北航天技术研究院总体设计所

一种用于子孔径拼接检测的数据采样路径规划方法

专利号：CN201310390270.3

公布日：2013-12-11

申请人：中国科学院光电技术研究所

平面子孔径拼接系统中定位误差的标定装置及其标定和补偿方法

专利号：CN201610032277.1

公布日：2018-03-20

申请人：中国科学院上海光学精密机械研究所

大口径光学元件面形拼接检测方法及设备

专利号：CN201911063054.1

公布日：2020-04-07

申请人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

一种用于非球面环形子孔径拼接的中心偏移误差补偿方法

专利号：CN201510633530.4

公布日：2017-09-12

申请人：西安交通大学

一种微球表面子孔径拼接方法

专利号：CN201910774613.3

公布日：2021-01-08

申请人：南京理工大学

采用变形镜的拼接干涉检测非球面面形的装置

专利号：CN201510922163.X

公布日：2018-10-16

申请人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

一种大口径光学元件分区域扫描拼接方法

专利号：CN202010127934.7

公布日：2022-02-18

申请人：浙江大学

一种基于数字全息图的高精度球面子孔径拼接融合方法

专利号：CN201510684251.0

公布日：2016-01-13

申请人：北京航空航天大学

一种基于加权最小二乘法的平面子孔径拼接方法

专利号：CN201210180322.X

公布日：2012-10-10

申请人：中国科学院光电技术研究所

一种混合补偿式子孔径拼接面形检测方法

专利号：CN201710911290.9

公布日：2019-05-21

申请人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

一种基于SURF特征匹配的子孔径拼接方法

专利号：CN201810972638.X

公布日：2020-03-17

申请人：中国工程物理研究院机械制造工艺研究所

一种光学元件表面子孔径拼接方法及装置

专利号：CN202310651290.5

公布日：2023-08-18

申请人：西安工业大学

一种SAR的子孔径拼接方法及系统

专利号：CN201410638078.6

公布日：2018-08-28

申请人：航天恒星科技有限公司

一种高精度平面子孔径拼接检测方法

专利号：CN201610223513.8

公布日：2018-04-17

申请人：中国科学院上海光学精密机械研究所