对位检测装置及对位检测方法

专利号：CN202110872233.0

公布日：2021-11-02

申请人：宣城睿晖宣晟企业管理中心合伙企业（有限合伙）

对位检测方法和对位检测装置

专利号：CN200810202473.4

公布日：2009-04-08

申请人：友达光电（苏州）有限公司;友达光电股份有限公司

对位装置、对位检测方法及对位系统

专利号：CN201510615629.1

公布日：2018-06-26

申请人：京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司

对位标和对位检测方法

专利号：CN201610649393.8

公布日：2018-02-23

申请人：北大方正集团有限公司;珠海方正科技高密电子有限公司

对位检测装置

专利号：CN202121786555.5

公布日：2022-03-18

申请人：安徽华晟新能源科技有限公司

对位检测结构、线路板及对位检测方法

专利号：CN202211693212.3

公布日：2023-04-14

申请人：皆利士多层线路版（中山）有限公司

一种对位检测方法和对位检测装置

专利号：CN201610228657.2

公布日：2018-02-13

申请人：京东方科技集团股份有限公司

一种增加内层对位准确度孔环工艺

专利号：CN201711094321.2

公布日：2018-03-30

申请人：建业科技电子（惠州）有限公司

一种PCB板的对位检测治具及其对位方法

专利号：CN202211094957.8

公布日：2022-12-09

申请人：广东普思精密科技有限公司

一种磁悬浮飞轮转子位置鉴别装置

专利号：CN200710062776.6

公布日：2007-07-18

申请人：北京航空航天大学

一种面板检测设备

专利号：CN202121866885.5

公布日：2022-02-25

申请人：合肥欣奕华智能机器有限公司

相对位置检测方法及检测系统

专利号：CN201910519245.8

公布日：2023-01-24

申请人：歌尔光学科技有限公司

一种晶圆检测装置及其检测方法

专利号：CN202210930449.2

公布日：2023-09-29

申请人：立川（无锡）半导体设备有限公司

半导体器件的对位检测方法与对位检测设备

专利号：CN202210336064.3

公布日：2022-07-22

申请人：深圳禾思众成科技有限公司

相对位置检测设备和相对位置检测系统

专利号：CN200980114586.1

公布日：2011-04-13

申请人：丰田自动车株式会社