一种润滑均匀复合织构刀具

专利号：CN201910976281.7

公布日：2021-01-15

申请人：江苏大学

基于人工智能原子力显微镜的形貌图像获取方法和装置

专利号：CN202111335334.0

公布日：2023-05-16

申请人：深圳先进技术研究院;中国科学院深圳理工大学（筹）

一种形貌信息检测系统、方法及装置

专利号：CN201910917282.4

公布日：2019-12-13

申请人：全球能源互联网研究院有限公司

周期纳米结构形貌参数测量方法、装置、设备及介质

专利号：CN202210165655.9

公布日：2022-05-24

申请人：板石智能科技（深圳）有限公司

一种形貌信息检测系统

专利号：CN201921623978.8

公布日：2020-06-12

申请人：全球能源互联网研究院有限公司

一种抛光方法和化学机械抛光设备

专利号：CN202211263753.2

公布日：2023-01-13

申请人：华海清科股份有限公司

线条三维形貌测量方法及线宽测量方法

专利号：CN201510584024.0

公布日：2015-12-16

申请人：中国计量科学研究院

焊缝形貌监控方法、系统、装置及可读存储介质

专利号：CN201911265670.5

公布日：2022-08-30

申请人：华中科技大学鄂州工业技术研究院;华中科技大学

检测晶片表面形貌的方法

专利号：CN201010509829.6

公布日：2012-05-16

申请人：中芯国际集成电路制造（上海）有限公司

建立理论光谱库的方法及装置、形貌参数测量方法及装置

专利号：CN202211047949.8

公布日：2022-11-29

申请人：上海精测半导体技术有限公司

一种掩模形貌图处理方法、装置以及计算机设备

专利号：CN202210085792.1

公布日：2022-05-31

申请人：东方晶源微电子科技(北京)有限公司

用于植入物表面的表面处理

专利号：CN201680046260.X

公布日：2022-03-01

申请人：拜奥美特3I有限责任公司

芯片形貌预测方法、装置、设备及存储介质

专利号：CN202310423025.1

公布日：2023-07-14

申请人：中国科学院微电子研究所

形貌检测装置与形貌检测方法

专利号：CN201710682522.8

公布日：2020-09-22

申请人：上海微电子装备（集团）股份有限公司

形貌检测系统及形貌检测方法

专利号：CN202110919399.3

公布日：2022-10-14

申请人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所