利用试验数据获取单粒子效应器件敏感截面的方法及装置

专利号：CN201410677709.5

公布日：2018-08-31

申请人：北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司

利用FOM获取中子单粒子效应器件敏感截面的方法及装置

专利号：CN201410676788.8

公布日：2019-01-25

申请人：北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司

利用BGR获取中子单粒子效应器件敏感截面的方法及装置

专利号：CN201410676821.7

公布日：2019-01-25

申请人：北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司

元器件敏感参数退化的测量方法

专利号：CN201510236802.7

公布日：2016-06-29

申请人：北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司

一种温度敏感器件的恒温装置

专利号：CN201920484317.5

公布日：2020-01-31

申请人：中国科学院高能物理研究所

基于标准CMOS工艺的ISFET器件敏感膜制作方法

专利号：CN201710981238.0

公布日：2020-10-23

申请人：中国科学院半导体研究所

电子装置

专利号：CN202310392832.1

公布日：2023-06-30

申请人：上海移为通信技术股份有限公司

敏感器件结构及其制备方法以及半导体器件

专利号：CN202210174525.1

公布日：2022-05-27

申请人：绍兴中芯集成电路制造股份有限公司

一种图像传感器结构

专利号：CN202010856280.1

公布日：2020-12-25

申请人：上海集成电路研发中心有限公司

一种散热装置、散热装置的制造方法以及电子设备

专利号：CN201310694884.0

公布日：2014-04-09

申请人：华为技术有限公司

一种敏感元器件生产用组装机构

专利号：CN202220763853.0

公布日：2022-08-02

申请人：成都三拓科技有限公司

电子设备的防泄密结构和电子设备

专利号：CN202020393242.2

公布日：2020-10-09

申请人：百富计算机技术（深圳）有限公司

元件、功能模块和系统的剩余寿命评估方法、装置和系统

专利号：CN202080097738.8

公布日：2022-10-14

申请人：西门子股份公司

一种基于飞秒脉冲激光Z扫描的器件敏感体积确定方法

专利号：CN202110525010.7

公布日：2021-08-31

申请人：兰州空间技术物理研究所

一种声波传感器

专利号：CN201110424521.6

公布日：2013-06-19

申请人：西安威正电子科技有限公司