一种MCU的校准方法和系统

专利号：CN201410823105.7

公布日：2019-11-15

申请人：北京兆易创新科技股份有限公司

一种样本分析仪及其校准方法

专利号：CN201910736383.1

公布日：2021-02-09

申请人：深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司

一种用于信号采集板的测试校准板及其校准和测试方法

专利号：CN201810115164.7

公布日：2018-06-08

申请人：苏州硬木智能科技有限公司

分立器件半导体测试系统测试站自动切换校准装置及方法

专利号：CN202211589966.4

公布日：2023-01-13

申请人：南京宏泰半导体科技有限公司

一种功率模块动态测试中的电流自适应校准测试方法

专利号：CN202310172811.9

公布日：2023-06-30

申请人：深圳市愿力创科技有限公司

MOSFET器件交流动态参数测试校准装置及方法

专利号：CN202011235678.X

公布日：2021-02-12

申请人：四川立泰电子有限公司

卡件测试控制方法、装置、设备及存储介质

专利号：CN202310492321.7

公布日：2023-09-12

申请人：国能智深（天津）控制技术有限公司

测试机台的校准方法及校准系统

专利号：CN202010316796.7

公布日：2021-10-22

申请人：圣邦微电子（北京）股份有限公司

校准机构及终端测试系统

专利号：CN201811513719.X

公布日：2022-05-10

申请人：深圳市艾特讯科技有限公司

校准机构及终端测试系统

专利号：CN201822085872.9

公布日：2019-07-19

申请人：深圳市艾特讯科技有限公司

实时电压校准系统及方法

专利号：CN202311072537.4

公布日：2023-10-13

申请人：武汉励行科技有限公司

一种用于芯片模拟参数校准的装置及其测试方法

专利号：CN202011432669.X

公布日：2021-03-26

申请人：苏州英嘉通半导体有限公司

一种电机转子综合测试仪校准方法

专利号：CN202211655329.2

公布日：2023-03-31

申请人：上海电动工具研究所（集团）有限公司

时间参数校准系统

专利号：CN202021934321.6

公布日：2021-09-14

申请人：杭州长川科技股份有限公司

热释电传感器芯片校准及测试装置、系统

专利号：CN202221834454.5

公布日：2022-12-27

申请人：苏州纳芯微电子股份有限公司