测试元件

专利号：CN03266303.X

公布日：2004-08-18

申请人：王俊峰

晶圆结构及其制造方法

专利号：CN202111100978.1

公布日：2023-10-24

申请人：长鑫存储技术有限公司

一种双脉冲测试平台

专利号：CN201820473176.2

公布日：2018-11-20

申请人：上海陆芯电子科技有限公司

用于测试至少一个插接元件的装置

专利号：CN202211141511.6

公布日：2023-03-24

申请人：基斯特勒控股公司

SMT首件测试方法、装置、计算机设备

专利号：CN202111595289.2

公布日：2022-04-12

申请人：赣州深奥科技有限公司

一种液体流量传感器智能控制系统

专利号：CN201610587620.9

公布日：2017-01-04

申请人：蚌埠大洋传感系统工程有限公司

元件测试系统及其方法

专利号：CN200910158929.6

公布日：2011-01-12

申请人：宝定科技股份有限公司

一种测试元件组及其制作方法、阵列基板及显示装置

专利号：CN201510824468.7

公布日：2016-01-20

申请人：京东方科技集团股份有限公司

一种测试元件组、阵列基板及显示装置

专利号：CN201520944861.5

公布日：2016-03-30

申请人：京东方科技集团股份有限公司

一种测试装置

专利号：CN201910508009.6

公布日：2019-09-20

申请人：深圳市江波龙电子股份有限公司

热元件的电阻测试设备及其测试方法

专利号：CN202211614861.X

公布日：2023-06-13

申请人：浙江正泰电器股份有限公司

一种测试芯片及集成方法

专利号：CN201911245978.3

公布日：2020-04-14

申请人：苏州容启传感器科技有限公司

热元件的电阻测试设备

专利号：CN202223352299.6

公布日：2023-06-16

申请人：浙江正泰电器股份有限公司

一种转印装置、转印装置的制作方法和转印方法

专利号：CN201910319730.0

公布日：2021-06-29

申请人：成都辰显光电有限公司

测试机柜

专利号：CN202320612007.3

公布日：2023-08-15

申请人：阳光电源股份有限公司