AT命令测试方法及装置

专利号：CN201610251303.X

公布日：2017-10-31

申请人：展讯通信（上海）有限公司

AT命令自动化测试方法

专利号：CN201010556615.4

公布日：2012-05-30

申请人：基信康信息技术(上海)有限公司

一种可自定义验证方法的NANDFlash特性测试方法

专利号：CN201910717331.X

公布日：2019-11-19

申请人：山东华芯半导体有限公司

一种命令测试方法、装置及其存储介质

专利号：CN201811519824.4

公布日：2020-06-19

申请人：迈普通信技术股份有限公司

基于机器学习的NFC测试方法、装置和计算机设备

专利号：CN201811360481.1

公布日：2022-07-15

申请人：深圳忆联信息系统有限公司

一种系统配置命令通用测试脚本生成方法、装置

专利号：CN202010132372.5

公布日：2023-10-13

申请人：苏州浪潮智能科技有限公司

电子自动化设计软件的命令测试方法、装置、设备及介质

专利号：CN202311175691.4

公布日：2023-10-20

申请人：深圳鸿芯微纳技术有限公司

一种在线测试方法及装置

专利号：CN201510719453.4

公布日：2015-12-23

申请人：天脉聚源（北京）教育科技有限公司

一种接口测试方法、装置、设备及可读存储介质

专利号：CN201711269521.7

公布日：2022-08-12

申请人：航天信息股份有限公司

一种硬件测试方法、装置、电子设备及存储介质

专利号：CN202011073559.9

公布日：2021-01-29

申请人：湖南中联重科智能技术有限公司;中联重科股份有限公司

无线通信模块的测试方法、系统、设备和介质

专利号：CN202111683657.9

公布日：2023-05-16

申请人：重庆芯讯通无线科技有限公司

一种可自定义验证方法的spi flash测试方法

专利号：CN202211240894.2

公布日：2022-12-09

申请人：山东华芯半导体有限公司

一种电池修复方法

专利号：CN201310228011.0

公布日：2015-05-20

申请人：中兴通讯股份有限公司

测试命令发送方法、装置及系统

专利号：CN201310556707.6

公布日：2019-03-15

申请人：中兴通讯股份有限公司

一种芯片测试系统、方法、设备及存储介质

专利号：CN202211660349.9

公布日：2023-03-10

申请人：南京芯驰半导体科技有限公司