固态硬盘的测试模式切换方法

专利号：CN202310514187.6

公布日：2023-09-05

申请人：深圳市晶存科技有限公司

半导体存储器的测试模式信号产生器及其产生方法

专利号：CN200910175904.7

公布日：2010-03-24

申请人：海力士半导体有限公司

测试工装及测试系统

专利号：CN201610394403.8

公布日：2019-03-01

申请人：珠海格力电器股份有限公司

测试工装及测试系统

专利号：CN201620542250.2

公布日：2016-11-09

申请人：珠海格力电器股份有限公司

芯片测试方法、装置、设备及存储介质

专利号：CN202211153975.9

公布日：2022-12-06

申请人：长鑫存储技术有限公司

半导体器件

专利号：CN02120065.3

公布日：2003-03-26

申请人：富士通株式会社

一种EtherCAT通讯测试方法和装置

专利号：CN202210606074.4

公布日：2022-08-02

申请人：深圳市杰美康机电有限公司

测试模式信号发生装置

专利号：CN200910260969.1

公布日：2011-03-23

申请人：海力士半导体有限公司

一种测试方法和装置

专利号：CN201610570095.X

公布日：2020-10-27

申请人：深圳市中兴微电子技术有限公司

半导体器件

专利号：CN200610142094.1

公布日：2007-03-14

申请人：富士通株式会社

一种使片上系统进入测试模式的装置及方法

专利号：CN200810217042.5

公布日：2009-03-18

申请人：炬力集成电路设计有限公司

微控制器功能的测试方法

专利号：CN96107181.8

公布日：1998-01-21

申请人：合泰半导体股份有限公司

一种CAN总线控制器并行测试方法

专利号：CN202010574190.3

公布日：2023-06-06

申请人：北京振兴计量测试研究所

测试模式设置电路和包括其的半导体器件

专利号：CN201610437200.2

公布日：2020-12-08

申请人：爱思开海力士有限公司

一种进入测试模式的方法、装置及移动终端

专利号：CN201410485714.6

公布日：2015-01-07

申请人：广东欧珀移动通信有限公司