测试结构

专利号：CN202111149718.3

公布日：2022-01-07

申请人：上海华虹宏力半导体制造有限公司

测试结构

专利号：CN202210438570.3

公布日：2022-08-23

申请人：上海华力微电子有限公司

测试结构

专利号：CN202210597526.7

公布日：2022-09-20

申请人：华虹半导体（无锡）有限公司

测试结构

专利号：CN202111210782.8

公布日：2023-04-21

申请人：中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司

测试结构

专利号：CN202210164519.8

公布日：2023-09-01

申请人：中芯国际集成电路制造（天津）有限公司;中芯国际集成电路制造（上海）有限公司

测试结构

专利号：CN202210581453.2

公布日：2022-09-13

申请人：合肥晶合集成电路股份有限公司

测试结构

专利号：CN201310264755.8

公布日：2013-10-02

申请人：上海华力微电子有限公司

测试结构

专利号：CN201420148833.8

公布日：2014-08-13

申请人：中芯国际集成电路制造（北京）有限公司

测试结构

专利号：CN201320804312.9

公布日：2014-06-04

申请人：中芯国际集成电路制造（北京）有限公司

测试结构

专利号：CN201320806969.9

公布日：2014-06-11

申请人：中芯国际集成电路制造（北京）有限公司

测试结构

专利号：CN201320879310.6

公布日：2014-07-16

申请人：中芯国际集成电路制造（北京）有限公司

测试结构

专利号：CN201320878955.8

公布日：2014-06-11

申请人：中芯国际集成电路制造（北京）有限公司

测试结构

专利号：CN201320878928.0

公布日：2014-06-11

申请人：中芯国际集成电路制造（北京）有限公司

测试结构

专利号：CN201320804311.4

公布日：2014-06-04

申请人：中芯国际集成电路制造（北京）有限公司

测试结构

专利号：CN201720607616.4

公布日：2017-12-19

申请人：中芯国际集成电路制造（天津）有限公司;中芯国际集成电路制造（上海）有限公司