程序代码测试方法及装置

专利号：CN201610914922.2

公布日：2019-08-06

申请人：腾讯科技（深圳）有限公司

仪控逻辑的测试方法、装置、设备及存储介质

专利号：CN202310437931.7

公布日：2023-08-04

申请人：国核自仪系统工程有限公司;山东核电有限公司

一种软件测试方法及系统

专利号：CN202111035934.5

公布日：2021-12-28

申请人：汇通达网络股份有限公司

标准单元库的测试方法

专利号：CN201911334496.5

公布日：2021-12-17

申请人：上海华力微电子有限公司

一种模块调试测试方法、系统及测试逻辑装置

专利号：CN200910243328.5

公布日：2010-05-19

申请人：北京中星微电子有限公司

用于操作在正常工作期间保持恒定的逻辑值的扫描测试系统和方法

专利号：CN01804472.7

公布日：2006-01-04

申请人：皇家菲利浦电子有限公司

半导体芯片的测试方法

专利号：CN202210050634.2

公布日：2022-04-29

申请人：长江存储科技有限责任公司

片上系统的数字逻辑自测试方法、装置、电子设备和介质

专利号：CN202210990018.5

公布日：2022-11-18

申请人：地平线(上海)人工智能技术有限公司

一种测试逻辑的显示方法、装置、设备及存储介质

专利号：CN202211335732.7

公布日：2023-01-13

申请人：中国农业银行股份有限公司

提高代码测试精度的方法及装置、存储介质及电子设备

专利号：CN202211526348.5

公布日：2023-03-03

申请人：京东科技控股股份有限公司

测试案例逻辑自动化生成方法及装置

专利号：CN202110830165.1

公布日：2021-09-24

申请人：中国工商银行股份有限公司

一种利用测试套完成产品自动化测试的方法

专利号：CN200510101179.0

公布日：2006-10-25

申请人：华为技术有限公司

存储器及其测试方法

专利号：CN202010846071.9

公布日：2020-12-11

申请人：上海燧原科技有限公司

软件性能测试方法及系统

专利号：CN202011352370.3

公布日：2021-08-20

申请人：苏州律点信息科技有限公司

单元测试方法及系统

专利号：CN201410087921.6

公布日：2018-07-06

申请人：富士施乐实业发展（中国）有限公司