涡旋流量测量仪、压力传感器和制造压力传感器的方法

专利号：CN201210238590.2

公布日：2013-01-16

申请人：克洛纳测量技术有限公司

一种测量薄膜张力与变形关系的测量平台及测量方法

专利号：CN201711268179.9

公布日：2020-05-12

申请人：彩虹无人机科技有限公司

一种3DNAND存储器的层叠结构的薄膜层厚度测量方法

专利号：CN201711058321.7

公布日：2018-03-23

申请人：长江存储科技有限责任公司

薄膜厚度测量装置、方法、系统、计算机设备和存储介质

专利号：CN202210106344.5

公布日：2023-09-05

申请人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））

外延薄膜厚度测量方法

专利号：CN201010278636.4

公布日：2011-04-06

申请人：上海宏力半导体制造有限公司

烟用薄膜热收缩率测量装置及其测量夹具

专利号：CN201621444590.8

公布日：2017-07-14

申请人：国家烟草质量监督检验中心;中国科学院合肥物质科学研究院

一种薄膜热收缩率的测量方法及测量装置

专利号：CN201611225296.2

公布日：2017-06-13

申请人：国家烟草质量监督检验中心;中国科学院合肥物质科学研究院

一种金属化薄膜方块电阻测量辅助装置

专利号：CN202011412532.8

公布日：2021-04-09

申请人：国网电力科学研究院武汉南瑞有限责任公司;国网电力科学研究院有限公司

一种金属化薄膜方块电阻测量辅助装置

专利号：CN202022900996.5

公布日：2021-09-10

申请人：国网电力科学研究院武汉南瑞有限责任公司;国网电力科学研究院有限公司

一种巨磁阻薄膜的力电磁耦合行为的检测装置及方法

专利号：CN201110350027.X

公布日：2012-06-20

申请人：清华大学

一种机床装配结合面应力分布测量薄膜、系统及方法

专利号：CN201410624032.9

公布日：2015-02-18

申请人：大连理工大学

薄膜热导率的测量装置及测量方法

专利号：CN202010037110.0

公布日：2022-08-05

申请人：深圳大学

薄膜厚度的测量方法及装置

专利号：CN201910561172.9

公布日：2020-12-29

申请人：长鑫存储技术有限公司

一种用于3D NAND存储器的存储层薄膜厚度测量方法

专利号：CN201711059141.0

公布日：2019-08-06

申请人：长江存储科技有限责任公司

一种锂电池薄膜测厚装置

专利号：CN202310134449.6

公布日：2023-05-16

申请人：上海蔻奢自动化技术有限公司