断路器电校验质量判定方法

专利号：CN201910754248.X

公布日：2019-12-13

申请人：浙江正泰电器股份有限公司

仿真MOSFET温度电学特性的子电路模型的建立方法

专利号：CN201810523411.7

公布日：2021-06-29

申请人：北京智芯微电子科技有限公司;国网信息通信产业集团有限公司

基于深度学习的FINFET器件直流特性预测方法

专利号：CN202211737893.9

公布日：2023-05-09

申请人：西安电子科技大学

采集数据的装置

专利号：CN94192297.9

公布日：1996-06-19

申请人：布里斯托尔联合医院特别理事会;德梅特尔斯·帕帕克斯托普罗斯

器件电学特性相关性分析方法及器件结构优化方法

专利号：CN201110023167.6

公布日：2012-07-25

申请人：中国科学院微电子研究所

一种电学材料伏安特性的测量方法

专利号：CN201210449107.5

公布日：2013-02-27

申请人：青岛大学

一种压电振子电学特性分布的估算方法及可读存储介质

专利号：CN201910864401.4

公布日：2019-11-15

申请人：河海大学

一种碳纳米管场效应管器件的建模方法及建模装置

专利号：CN202210360697.8

公布日：2022-07-05

申请人：中国科学院微电子研究所

应用微流控技术检测脑缺血模型外周血中性粒细胞电学特性的动态变化的方法

专利号：CN202110838275.2

公布日：2022-08-23

申请人：首都医科大学宣武医院;中国科学院微电子研究所

校正方法、电子元件的质量检查方法及特性测量系统

专利号：CN02151842.4

公布日：2004-04-21

申请人：株式会社村田制作所

SPICE寿命模型的建模方法、调参方法及建模系统

专利号：CN202011347826.7

公布日：2021-03-12

申请人：上海华力微电子有限公司

加速踏板电学特性曲线确定系统及方法

专利号：CN202110916219.6

公布日：2021-12-10

申请人：东风柳州汽车有限公司

一种半导体器件的电学和热学行为模拟方法

专利号：CN202111398601.9

公布日：2022-03-29

申请人：浙江大学杭州国际科创中心

电子设备和对用户进行认证的方法

专利号：CN201480079713.X

公布日：2017-02-22

申请人：索尼公司

一种细胞及细胞核生物电学特性检测装置及方法

专利号：CN202110198721.8

公布日：2022-11-29

申请人：中国科学院空天信息创新研究院