一种焊点电-热迁移试验方法

专利号：CN202210217418.2

公布日：2022-05-13

申请人：河南科技大学

一种电迁移测试方法、装置、设备及存储介质

专利号：CN202110012866.4

公布日：2022-05-03

申请人：上海燧原智能科技有限公司

一种确定电迁移计算策略的方法、计算机设备及存储介质

专利号：CN202211380071.X

公布日：2023-03-31

申请人：同济大学

一种金属电迁移测试结构

专利号：CN201510578327.1

公布日：2017-03-22

申请人：刘洋;李明洋;张坤宁

一种可靠性测试结构

专利号：CN201620831432.1

公布日：2017-01-18

申请人：中芯国际集成电路制造（北京）有限公司;中芯国际集成电路制造（上海）有限公司

一种电迁移失效的剩余寿命预测方法和装置

专利号：CN201210424774.8

公布日：2013-03-06

申请人：工业和信息化部电子第五研究所

电迁移结构和电迁移测试方法

专利号：CN201410045444.7

公布日：2015-08-12

申请人：中芯国际集成电路制造（上海）有限公司;中芯国际集成电路制造（北京）有限公司

一种电迁移测试的方法

专利号：CN202111143520.4

公布日：2023-03-31

申请人：中芯国际集成电路制造（北京）有限公司;中芯国际集成电路制造（上海）有限公司

半导体测试结构

专利号：CN201620826110.8

公布日：2017-01-04

申请人：

电迁移测试结构及其测试方法

专利号：CN201910249284.0

公布日：2019-07-05

申请人：上海华力集成电路制造有限公司

电迁移签核方法和系统

专利号：CN201611001163.7

公布日：2020-07-24

申请人：台湾积体电路制造股份有限公司

一种可提高使用寿命的电迁移测试结构

专利号：CN200810035088.5

公布日：2009-09-30

申请人：中芯国际集成电路制造(上海)有限公司

面向电商平台的信息数据迁移与安全保护系统及方法

专利号：CN202310231653.X

公布日：2023-04-11

申请人：聊城市茌平区润德勘察测绘有限公司

一种基于迁移学习的脑电情绪分类方法

专利号：CN202111513601.9

公布日：2022-05-13

申请人：陕西师范大学

一种自定位电迁移测试结构及透射电镜样品制备方法

专利号：CN201711182113.8

公布日：2020-03-13

申请人：长江存储科技有限责任公司