STI空穴结构设计缺点的检测方法

专利号：CN202211249416.8

公布日：2022-12-27

申请人：华虹半导体（无锡）有限公司

光学膜缺点自动标示装置

专利号：CN201711025778.8

公布日：2018-02-16

申请人：深圳精创视觉科技有限公司

光学膜缺点自动标示装置

专利号：CN201721403309.0

公布日：2018-05-29

申请人：深圳精创视觉科技有限公司

系统芯片的缺点检测

专利号：CN201080031112.3

公布日：2012-05-23

申请人：FTS电脑技术有限公司

λ/4板的缺点检查方法

专利号：CN202310088482.X

公布日：2023-08-11

申请人：日东电工株式会社

λ/4板的缺点检查方法

专利号：CN202310088485.3

公布日：2023-08-11

申请人：日东电工株式会社

印刷电路板缺点校对卡及使用该校对卡的缺点检验方法

专利号：CN201510073811.9

公布日：2015-05-20

申请人：竞陆电子（昆山）有限公司

能克服光学缺点的光学薄膜

专利号：CN200610136340.2

公布日：2008-04-23

申请人：开曼群岛商亚岗科技股份有限公司

一种缺点位置指示器

专利号：CN201420622641.6

公布日：2015-02-04

申请人：奥宝精密电子（苏州）有限公司

一种光学膜缺点喷印装置

专利号：CN202110047711.4

公布日：2021-06-01

申请人：恒美光电股份有限公司

点阵式印字设备缺点恢复的控制方法

专利号：CN200810072040.1

公布日：2009-03-25

申请人：福建实达电脑设备有限公司

弥补缺点完善人体的模特

专利号：CN200920079948.5

公布日：2010-10-13

申请人：王顺桥

一种基于隐空间拓扑结构约束的残缺点云补全方法

专利号：CN202110506116.2

公布日：2021-08-03

申请人：南京航空航天大学

图案化晶圆缺点检测系统及其方法

专利号：CN201410143477.5

公布日：2021-10-22

申请人：联达科技设备私人有限公司

图案化晶圆缺点检测系统及其方法

专利号：CN200810210608.1

公布日：2009-02-04

申请人：半导体技术设备私人有限公司