缺陷产生预测方法以及缺陷产生预测装置

专利号：CN202180060324.2

公布日：2023-05-26

申请人：株式会社神户制钢所

产生用于阵列区的缺陷样本

专利号：CN201980029918.X

公布日：2021-11-16

申请人：科磊股份有限公司

物品的预览检验方法及其设备

专利号：CN01140762.X

公布日：2002-03-13

申请人：佳能株式会社

缺陷探测的装置和方法及其程序

专利号：CN03136395.4

公布日：2004-01-21

申请人：大日本屏影象制造株式会社

PCB产品的过程管控方法和系统

专利号：CN201711098243.3

公布日：2018-05-15

申请人：广州兴森快捷电路科技有限公司;深圳市兴森快捷电路科技股份有限公司;宜兴硅谷电子科技有限公司

基于电网数据的一体化运维协同管理方法、存储设备、终端

专利号：CN201811385138.2

公布日：2021-12-24

申请人：国网山西省电力公司;山西合力创新科技股份有限公司;国网山西省电力公司陵川县供电公司

快速阻止欠酸洗缺陷产生的方法

专利号：CN201710429038.4

公布日：2019-11-22

申请人：唐山钢铁集团有限责任公司;河钢股份有限公司唐山分公司

防止磨光材磕碰缺陷产生的系统

专利号：CN201922365968.5

公布日：2020-10-27

申请人：大冶特殊钢有限公司

产生缺陷和残余张应力的方法

专利号：CN99813334.5

公布日：2001-12-12

申请人：赫尔辛基理工大学

光学记录介质的缺陷检测电路与方法

专利号：CN02142411.X

公布日：2004-03-24

申请人：联发科技股份有限公司

一种通过测量液晶玻璃板缺陷深度寻找产生缺陷的工段的方法

专利号：CN201710087364.1

公布日：2019-09-06

申请人：福州东旭光电科技有限公司;郑州旭飞光电科技有限公司;东旭光电科技股份有限公司;东旭集团有限公司

用于对缺陷单元地址编程的缺陷单元地址编程电路和方法

专利号：CN03119863.5

公布日：2003-09-10

申请人：三星电子株式会社

一种基于带电粒子辐照产生级联及点缺陷的方法

专利号：CN201610911410.0

公布日：2019-04-16

申请人：哈尔滨工业大学

波纹缺陷检查方法及装置、以及光掩模的制造方法

专利号：CN200510075809.1

公布日：2006-01-18

申请人：HOYA株式会社

用于缺陷分类的方法和系统

专利号：CN201680025752.0

公布日：2018-03-20

申请人：科磊股份有限公司