用于管理盘缺陷的方法和设备及其盘

专利号：CN200610092281.3

公布日：2009-07-29

申请人：三星电子株式会社

用于管理盘缺陷的方法和设备及其盘

专利号：CN200610080191.2

公布日：2006-11-01

申请人：三星电子株式会社

用于管理盘缺陷的方法和设备及其盘

专利号：CN200480000874.1

公布日：2005-11-23

申请人：三星电子株式会社

处理缺陷区和链接区的方法

专利号：CN200510056826.0

公布日：2008-09-03

申请人：三星电子株式会社

光盘、记录装置、读取装置、记录方法及读取方法

专利号：CN200810099110.2

公布日：2008-09-17

申请人：松下电器产业株式会社

光盘、记录装置、读取装置及方法

专利号：CN200680000033.X

公布日：2007-04-04

申请人：松下电器产业株式会社

盘形记录介质、记录方法和盘片驱动设备

专利号：CN03801017.8

公布日：2004-12-08

申请人：索尼株式会社

一种评价复合材料结构R区缺陷超声检出概率的方法

专利号：CN201711290134.1

公布日：2020-09-22

申请人：中航复合材料有限责任公司

一种自动光学检测伪缺陷去除方法及系统

专利号：CN202010268258.5

公布日：2023-04-28

申请人：广东工业大学

一次性写入光盘和用于管理一次性写入光盘上的缺陷区的方法及装置

专利号：CN200710194086.6

公布日：2008-05-21

申请人：LG电子株式会社

一次性写入光盘和用于管理一次性写入光盘上的缺陷区的方法及装置

专利号：CN03801864.0

公布日：2005-04-27

申请人：LG电子株式会社

一次写入型光盘以及用于管理该光盘上的缺陷信息的方法和设备

专利号：CN200380109313.0

公布日：2006-03-08

申请人：LG电子株式会社

通过控制LMD工艺预制熔合不良缺陷的方法

专利号：CN202010319683.2

公布日：2020-07-28

申请人：中国航发上海商用航空发动机制造有限责任公司;中国航发商用航空发动机有限责任公司

管理记录介质中的缺陷的方法和设备

专利号：CN200710139130.3

公布日：2007-12-05

申请人：三星电子株式会社

管理记录介质中的缺陷的方法和设备及使用该方法获得的缺陷被管理的记录介质

专利号：CN200480011097.0

公布日：2006-05-31

申请人：三星电子株式会社