IC老化测试方法、装置、计算机设备和存储介质

专利号：CN202310140826.7

公布日：2023-04-21

申请人：优普士电子（深圳）有限公司

功率模块老化测试的漏电流校正方法、装置及测试系统

专利号：CN202211534030.1

公布日：2023-03-28

申请人：上海临港电力电子研究有限公司

一种自动老化测试装置及测试架

专利号：CN202020016690.0

公布日：2020-12-22

申请人：深圳市臻上科技发展有限公司

一种液晶模组老化测试系统

专利号：CN202210061821.0

公布日：2022-05-31

申请人：业成科技（成都）有限公司;业成光电（深圳）有限公司;业成光电（无锡）有限公司;英特盛科技股份有限公司

一种新能源汽车电池管理系统老化测试的方法与装备

专利号：CN202310588975.X

公布日：2023-08-18

申请人：广州市方瞳科技有限责任公司

对批量PD芯片的老化测试方法、电路及系统

专利号：CN202211111616.7

公布日：2022-12-02

申请人：武汉光谷信息光电子创新中心有限公司

激光器老化测试设备

专利号：CN201721182503.0

公布日：2018-04-20

申请人：深圳市杰普特光电股份有限公司

一种管理型交换机生产测试方法

专利号：CN201910111759.X

公布日：2019-06-14

申请人：太仓市同维电子有限公司

基于无线耳机充电盒的老化测试方法、上位机及老化柜

专利号：CN202110738522.1

公布日：2021-10-08

申请人：深圳市豪恩声学股份有限公司

电机老化测试辅助装置

专利号：CN201510240452.1

公布日：2018-04-06

申请人：苏州永捷电机有限公司

一种10kV XLPE电缆绝缘老化状态评估方法

专利号：CN201911062587.8

公布日：2020-10-30

申请人：西南交通大学

一种能够实现数据溯源的机器人测试方法、系统及产品

专利号：CN202211197827.7

公布日：2023-01-24

申请人：上海有个机器人有限公司

液晶屏测试板及电视机的测试装置

专利号：CN201611157121.2

公布日：2017-05-31

申请人：深圳TCL新技术有限公司

一种半导体存储器老化测试核心板

专利号：CN201811006057.7

公布日：2021-07-23

申请人：武汉精鸿电子技术有限公司

基于固态硬盘的高温老化测试方法、装置和计算机设备

专利号：CN202211329489.8

公布日：2023-01-10

申请人：成都芯忆联信息技术有限公司