一种用于薄膜截面样品的制备和转移的装置

专利号：CN202010317125.2

公布日：2021-06-18

申请人：中国科学院物理研究所

致密性的表征方法

专利号：CN202110872477.9

公布日：2023-10-27

申请人：长江存储科技有限责任公司

薄膜厚度测量装置、方法、系统、计算机设备和存储介质

专利号：CN202210106344.5

公布日：2023-09-05

申请人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））

一种多层复合氧化物高k介质薄膜晶体管的制备方法

专利号：CN201410210984.6

公布日：2014-07-30

申请人：青岛大学

薄膜厚度的测量方法及装置

专利号：CN201910561172.9

公布日：2020-12-29

申请人：长鑫存储技术有限公司

热电薄膜性能的检测系统

专利号：CN202210743247.7

公布日：2022-11-11

申请人：南方科技大学

微孔薄膜材料的断面扫描电镜样品制备的方法

专利号：CN201310482162.9

公布日：2014-01-15

申请人：深圳市星源材质科技有限公司

一种薄膜样品全自动裁切方法与装置

专利号：CN201910879174.2

公布日：2021-03-02

申请人：中国科学院合肥物质科学研究院;合肥众沃仪器技术有限公司

一种薄膜厚度测量方法

专利号：CN202110026520.X

公布日：2023-02-03

申请人：上海精测半导体技术有限公司

一种霍尔薄膜样品装夹结构

专利号：CN201820052245.2

公布日：2018-08-21

申请人：武汉嘉仪通科技有限公司

小角X射线散射用薄膜样品架

专利号：CN202210964297.8

公布日：2022-12-06

申请人：北京航空航天大学

用于原子力显微镜的生长蛋白质晶体生长样品池

专利号：CN03252652.0

公布日：2004-09-15

申请人：中国科学院力学研究所

一种子母PE夹链医疗袋

专利号：CN201721570986.1

公布日：2018-07-10

申请人：河源市华丰塑胶有限公司

一种薄膜热收缩率的测量方法及测量装置

专利号：CN201611225296.2

公布日：2017-06-13

申请人：国家烟草质量监督检验中心;中国科学院合肥物质科学研究院

一种软磁薄膜材料表面电阻高通量测试方法

专利号：CN201610283377.1

公布日：2016-09-21

申请人：宁波国际材料基因工程研究院有限公司