用于自旋矩MRAM的混合读取方案

专利号：CN201280066616.8

公布日：2014-09-10

申请人：艾沃思宾技术公司

非破坏性评估方法和非破坏性评估系统

专利号：CN201610352672.8

公布日：2021-06-22

申请人：波音公司

非破坏性检测方法和非破坏性检测装置

专利号：CN201880018524.X

公布日：2022-04-01

申请人：国立研究开发法人产业技术综合研究所

非破坏性检查装置及非破坏性检查方法

专利号：CN200610091216.9

公布日：2006-12-13

申请人：恩益禧电子股份有限公司

非破坏性读出

专利号：CN02805531.4

公布日：2004-05-05

申请人：薄膜电子有限公司

非破坏性检查系统

专利号：CN201910079248.4

公布日：2022-03-25

申请人：韩国原子力研究院

非破坏性检测装置

专利号：CN00815168.7

公布日：2004-08-11

申请人：浜松光子学株式会社

成像装置和放射线照相成像系统

专利号：CN201710299108.9

公布日：2020-08-07

申请人：佳能株式会社

一种可防止非破坏性物理攻击安全芯片的结构

专利号：CN200520063142.9

公布日：2006-11-22

申请人：北京兆日科技有限责任公司

电子元件能量冲击测试系统及方法

专利号：CN01116199.X

公布日：2003-01-01

申请人：大冈科技股份有限公司

具有非破坏性读取的铁电随机存取存储器

专利号：CN201310318403.6

公布日：2014-02-12

申请人：德克萨斯仪器股份有限公司

一种面向非破坏性读出红外探测器的采样方法

专利号：CN202211057250.X

公布日：2022-12-09

申请人：北京空间机电研究所

使用导波的非破坏性检查装置及非破坏性检查方法

专利号：CN200310123047.9

公布日：2005-02-02

申请人：株式会社日立制作所

生成高动态范围图像的方法、系统及记录介质

专利号：CN201780083864.6

公布日：2021-10-12

申请人：国家科学研究中心;索邦大学;巴黎狄德罗大学－巴黎第七大学狄德罗价值管理部;法国巴黎高等师范学院;勃艮第大学

一种非破坏性读取的铁电忆容器及其制作方法和应用

专利号：CN202110979542.8

公布日：2022-01-18

申请人：之江实验室;华东师范大学