源测量单元和源测量测试系统

专利号：CN202211254005.8

公布日：2023-03-07

申请人：北京大学;北京元芯碳基集成电路研究院;北京华碳科技有限责任公司

融合定位方法、装置、车辆及存储介质

专利号：CN202210540746.6

公布日：2022-08-30

申请人：驭势科技（北京）有限公司

漏源击穿电压测试装置以及漏源击穿电压测试方法

专利号：CN201210093708.7

公布日：2012-08-01

申请人：上海宏力半导体制造有限公司

烃源岩残余气量的测量系统、方法及运移气量的测量方法

专利号：CN201910476956.1

公布日：2020-12-04

申请人：中国石油天然气股份有限公司;四川科力特油气技术服务有限公司

一种测量无源电路S参数的方法和实施该方法的测量装置

专利号：CN200710203575.3

公布日：2009-07-01

申请人：鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司

用于同步、准确的材料特性测量的集成测量系统和方法

专利号：CN202180035629.8

公布日：2023-01-31

申请人：湖畔低温电子学公司

干扰源的测量方法、装置及基站

专利号：CN202110360626.3

公布日：2022-02-22

申请人：北京云智软通信息技术有限公司

一种危险目标源尺寸光学测量方法及装置

专利号：CN201210521497.2

公布日：2013-04-03

申请人：中国工程物理研究院流体物理研究所

复杂多路特征阻值智能测试系统

专利号：CN202310331411.8

公布日：2023-06-06

申请人：重庆凯际科技有限公司

太赫兹源波长测量仪校准装置及方法

专利号：CN201811577098.1

公布日：2019-03-22

申请人：西安应用光学研究所

对超测量源表范围的漏源击穿电压进行测量的装置及方法

专利号：CN201210081754.5

公布日：2013-10-23

申请人：上海宏力半导体制造有限公司

载波聚合系统中测量任务处理方法及系统

专利号：CN201010194670.3

公布日：2011-12-07

申请人：中兴通讯股份有限公司

电力通信无线电干扰源的定位方法及系统

专利号：CN202211393342.5

公布日：2023-03-21

申请人：国网湖南省电力有限公司;国网湖南省电力有限公司经济技术研究院;国家电网有限公司

固体镭源中心点测量仪及其检测方法

专利号：CN201410040352.X

公布日：2015-07-29

申请人：核工业航测遥感中心

一种氡活度绝对测量装置

专利号：CN201810263651.8

公布日：2020-08-21

申请人：中国原子能科学研究院