一种基于超分辨率重建的点阵结构缺陷检测方法及系统

专利号：CN202010689831.X

公布日：2020-10-27

申请人：燕山大学

一种软件测试覆盖率计算装置及方法

专利号：CN202210456859.8

公布日：2022-07-12

申请人：苏州浪潮智能科技有限公司

YE在线检测管控方法

专利号：CN201410057303.7

公布日：2018-03-23

申请人：中芯国际集成电路制造（上海）有限公司

一种半导体器件中辐照缺陷演化的模拟方法及系统

专利号：CN202210759852.3

公布日：2022-10-14

申请人：哈尔滨工业大学

晶圆良率损失预测方法及自定义缺陷密度图形自报告系统

专利号：CN202110863716.4

公布日：2021-11-05

申请人：上海华力微电子有限公司

风机发电率损失预测方法、系统、设备及介质

专利号：CN202110593670.9

公布日：2021-07-23

申请人：上海扩博智能技术有限公司

一种目标检测任务中最佳检测模型的选取方法及装置

专利号：CN202110973126.7

公布日：2021-11-16

申请人：凌云光技术股份有限公司;深圳市凌云视迅科技有限责任公司

缺陷分析法

专利号：CN201310444792.7

公布日：2017-07-11

申请人：中芯国际集成电路制造（上海）有限公司

图像缺陷确定方法与装置、电子设备及存储介质

专利号：CN202080000055.6

公布日：2021-10-12

申请人：京东方科技集团股份有限公司

晶圆缺陷密度获得方法、测试方法及半导体装置形成方法

专利号：CN201410007099.8

公布日：2017-04-26

申请人：无锡华润上华半导体有限公司

一种用于FPC的缺陷检测方法和装置

专利号：CN201910251713.8

公布日：2019-07-05

申请人：深圳市派科斯科技有限公司

一种半导体器件的良率预测方法及装置

专利号：CN202011357825.0

公布日：2021-03-12

申请人：上海华力集成电路制造有限公司

关键检验特性缺陷率统计方法

专利号：CN201911113589.5

公布日：2020-02-18

申请人：北京京航计算通讯研究所

关键检验特性缺陷率统计装置

专利号：CN201911113568.3

公布日：2020-03-06

申请人：北京京航计算通讯研究所

一种基于信息化手段的电网运检业务管理方法

专利号：CN202310087444.2

公布日：2023-05-02

申请人：国网青海省电力公司信息通信公司