半导体参数测试仪器的测试探针的电阻测试方法

专利号：CN201210052007.9

公布日：2012-07-18

申请人：上海宏力半导体制造有限公司

一种带状线谐振器测试仪的测试探针分离装置

专利号：CN201621342818.2

公布日：2017-06-09

申请人：中国电子科技集团公司第四十六研究所

各向异性磁阻结构磁场强度检测装置

专利号：CN201310041892.5

公布日：2017-03-29

申请人：上海华虹宏力半导体制造有限公司

一种测试半导体母头连接器的测试探针

专利号：CN202022278667.1

公布日：2021-08-13

申请人：四川锐坤电子技术有限公司

测试探针和制造测试探针的方法

专利号：CN201510172275.8

公布日：2020-09-29

申请人：英飞凌科技股份有限公司

一种用于静音开关导通测试的测试探针

专利号：CN202022378576.5

公布日：2021-06-18

申请人：苏州汇亿达光学科技有限公司

一种用于静音开关导通测试的针板装置

专利号：CN202022376639.3

公布日：2021-06-18

申请人：苏州汇亿达光学科技有限公司

一种用于静音开关测试的测试探针固定板

专利号：CN202022376594.X

公布日：2021-08-31

申请人：苏州汇亿达光学科技有限公司

测试产品正负极朝向正反的检测装置

专利号：CN201921918769.6

公布日：2020-07-17

申请人：昆山富士龙自动化有限公司

一种接入试探的控制处理方法

专利号：CN02131029.7

公布日：2004-03-31

申请人：华为技术有限公司

一种光伏汇流箱分流器测量板的测试装置

专利号：CN201510204241.2

公布日：2018-09-28

申请人：许继集团有限公司;许昌许继风电科技有限公司;国家电网公司

阻抗测试探针组件

专利号：CN201610348108.9

公布日：2018-10-02

申请人：南京协辰电子科技有限公司

阻抗测试探针组件

专利号：CN201620479498.9

公布日：2016-11-16

申请人：南京协辰电子科技有限公司

一种Suns‑Voc测试装置

专利号：CN201620532885.4

公布日：2016-10-26

申请人：苏州阿特斯阳光电力科技有限公司

一种用于充电接口接触电阻的标准检测量具

专利号：CN201910419095.3

公布日：2019-08-16

申请人：深圳巴斯巴科技发展有限公司