具备EDAC功能SRAM的软错误率预计方法与系统

专利号：CN201711368165.4

公布日：2020-12-08

申请人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所

闪存的读电压确定方法、装置、计算机设备和存储介质

专利号：CN201910335886.8

公布日：2019-08-30

申请人：深圳市金泰克半导体有限公司

用于降低ECC存储器的软错误率的方法和装置

专利号：CN201811442640.2

公布日：2019-04-23

申请人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））

基于错误率变化型式在编程擦除循环期间对数据单元的选择性采样

专利号：CN202110472020.9

公布日：2021-10-29

申请人：美光科技公司

错误率估计器

专利号：CN98105720.9

公布日：2003-04-16

申请人：松下电器产业株式会社

一种电子器件软错误率评估方法及装置

专利号：CN201811357663.3

公布日：2020-12-29

申请人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））

面向可变错误率的检查点间隔实时确定方法

专利号：CN201410683405.X

公布日：2015-02-04

申请人：中国人民解放军国防科学技术大学

实时网络纠错方法

专利号：CN200710098080.9

公布日：2008-10-29

申请人：华忆科技（深圳）有限公司;美国事业管理公司

运算方法及装置

专利号：CN201910758887.3

公布日：2019-11-26

申请人：紫光展锐(重庆)科技有限公司

安全测试的方法和装置

专利号：CN201711479689.0

公布日：2020-04-14

申请人：清华大学

用于检测和报告安全仪表化系统中的风险的软错误聚合方法

专利号：CN202211500159.0

公布日：2023-06-13

申请人：施耐德电子系统美国股份有限公司

频率感知的快速DFF软错误率评估方法与系统

专利号：CN201510067789.7

公布日：2017-12-01

申请人：上海交通大学

用户装置

专利号：CN201880097997.3

公布日：2021-05-04

申请人：株式会社NTT都科摩

闭环软错误率灵敏度控制

专利号：CN201010143447.6

公布日：2011-06-08

申请人：LSI公司

一种块存储器单粒子翻转防护设计定量评估方法及装置

专利号：CN202110227655.2

公布日：2021-06-15

申请人：北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司