搜索结果(共计:16条)
专利号:CN202310402579.3
公布日:2023-08-29
申请人:中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
专利号:CN202310118025.0
公布日:2023-07-28
申请人:中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
专利号:CN202111490041.X
公布日:2023-07-14
申请人:中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
专利号:CN202310249384.X
公布日:2023-07-07
申请人:中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
专利号:CN202211090973.X
公布日:2023-05-12
申请人:中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
专利号:CN202211235134.2
公布日:2023-03-07
申请人:中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
专利号:CN202011392129.3
公布日:2022-07-22
申请人:中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
专利号:CN202210151484.4
公布日:2022-06-17
申请人:中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
专利号:CN202111485430.3
公布日:2022-04-26
申请人:中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
专利号:CN202111520589.4
公布日:2022-04-22
申请人:中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
专利号:CN202111479150.1
公布日:2022-03-04
申请人:中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
专利号:CN202111291758.1
公布日:2022-03-04
申请人:中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
专利号:CN201811462580.0
公布日:2021-05-18
申请人:中国科学院半导体研究所
专利号:CN201811467732.6
公布日:2021-03-26
申请人:中国科学院半导体研究所;中国科学院大学
专利号:CN201810498089.7
公布日:2019-07-05
申请人:中国科学院半导体研究所