搜索结果(共计:25条)
专利号:CN202311094893.6
公布日:2023-10-20
申请人:中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
专利号:CN202211680976.9
公布日:2023-05-26
申请人:中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
专利号:CN202011312737.9
公布日:2022-10-18
申请人:中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
专利号:CN202210434537.3
公布日:2022-09-09
申请人:中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
专利号:CN202210419899.5
公布日:2022-08-12
申请人:中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
专利号:CN202011215483.9
公布日:2022-08-02
申请人:中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
专利号:CN202210197053.1
公布日:2022-07-08
申请人:中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
专利号:CN202111492772.8
公布日:2022-04-15
申请人:中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
专利号:CN202111406433.3
公布日:2022-04-08
申请人:中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
专利号:CN201910115496.X
公布日:2022-03-18
申请人:中国科学院半导体研究所
专利号:CN201910145021.5
公布日:2021-11-12
申请人:中国科学院半导体研究所
专利号:CN201811529496.6
公布日:2020-07-17
申请人:中国科学院半导体研究所
专利号:CN201711132319.X
公布日:2019-11-08
申请人:友达光电股份有限公司
专利号:CN201510008432.1
公布日:2017-04-12
申请人:友达光电股份有限公司
专利号:CN201620912100.6
公布日:2017-02-08
申请人:友达光电股份有限公司