圆片测试参数分析方法

专利号：CN02158152.5

公布日：2004-07-07

申请人：力晶半导体股份有限公司

一种提高皮蛋产品的成品率加工方法

专利号：CN202010917859.4

公布日：2023-03-24

申请人：湖北省农业科学院畜牧兽医研究所

半导体产品的测试成品率估计方法和系统

专利号：CN200610136544.6

公布日：2007-05-02

申请人：国际商业机器公司

一种分析和提高半导体生产线的成品率的方法

专利号：CN200710156700.X

公布日：2008-05-21

申请人：浙江大学

基于成品率的生产控制方法

专利号：CN201110413690.X

公布日：2016-10-12

申请人：上海宝钢钢材贸易有限公司

一种产品参数成品率估计方法

专利号：CN201310391408.1

公布日：2013-12-04

申请人：西安电子科技大学

成品率高的制鞋模具

专利号：CN202222394006.4

公布日：2023-01-10

申请人：福建泉州市嘉隆模具有限公司

一种利用有效面积来建立记忆体电路的成品率模型的方法

专利号：CN200710157002.1

公布日：2008-05-14

申请人：浙江大学

基于大数据的卫品设备成品率统计装置

专利号：CN202111457283.9

公布日：2022-04-12

申请人：晋江海纳机械有限公司

用于制造环境中的产品随机化和分析的方法和系统

专利号：CN200810009223.9

公布日：2008-08-06

申请人：国际商业机器公司

用于提高工业产品的成品率的方法

专利号：CN200410102114.3

公布日：2005-09-21

申请人：日立环球储存科技荷兰有限公司

一种基于风箱废气温度的烧结矿成品率预测方法

专利号：CN201611187766.0

公布日：2018-09-04

申请人：中国地质大学（武汉）

用于半导体器件的成品率相似性的方法和系统

专利号：CN200410025413.1

公布日：2006-01-04

申请人：中芯国际集成电路制造(上海)有限公司

一种同时考虑多种性能约束的芯片参数成品率预测方法

专利号：CN201710841657.4

公布日：2018-03-06

申请人：南京邮电大学

设计驱动器的方法

专利号：CN200810127819.9

公布日：2008-12-31

申请人：东部高科股份有限公司