校正参数产生装置

专利号：CN201210106730.0

公布日：2013-10-30

申请人：钰瀚科技股份有限公司

参数产生装置与方法

专利号：CN201310359044.9

公布日：2015-02-25

申请人：瑞昱半导体股份有限公司

物理参数产生器

专利号：CN202011490963.6

公布日：2022-06-17

申请人：致新科技股份有限公司

加工参数自动产生系统

专利号：CN201910052364.7

公布日：2020-06-30

申请人：财团法人工业技术研究院

最佳化参数的产生方法及产生装置

专利号：CN202211604765.7

公布日：2023-07-25

申请人：和硕联合科技股份有限公司

用于判定主块优先权的参数产生电路及产生参数的方法

专利号：CN200310101089.2

公布日：2004-05-19

申请人：三星电子株式会社

决定产能参数的方法及产能参数产生系统

专利号：CN202110257109.3

公布日：2021-11-05

申请人：和硕联合科技股份有限公司

存储芯片和参数产生方法

专利号：CN201410166627.4

公布日：2014-07-30

申请人：珠海艾派克微电子有限公司

预测模式参数产生方法与装置

专利号：CN200710163118.6

公布日：2008-02-20

申请人：威盛电子股份有限公司

驱动力量参数产生方法

专利号：CN200510098178.5

公布日：2007-03-21

申请人：建兴电子科技股份有限公司

磁共振技术中参数图的产生

专利号：CN201510303122.2

公布日：2018-11-16

申请人：西门子公司

舒适噪声产生参数的匹配方法

专利号：CN200510107400.3

公布日：2006-07-12

申请人：西门子公司

一种高参数蒸汽产生装置

专利号：CN201120093814.6

公布日：2011-09-28

申请人：上海汉卓能源科技有限公司

产生导航参数和竖直位置的方法

专利号：CN200580048500.1

公布日：2008-02-13

申请人：V·A·别列尼基

基于物理装置参数产生非易失性存储器装置的编程参数

专利号：CN202111563537.5

公布日：2022-06-24

申请人：铠侠股份有限公司