功率器件的失效分析方法

专利号：CN202010210630.7

公布日：2020-07-03

申请人：上海华虹宏力半导体制造有限公司

基于感知失效的数据补偿方法以及装置

专利号：CN202310266280.X

公布日：2023-06-23

申请人：阿里云计算有限公司

一种构建软件失效区域模式的方法及系统

专利号：CN201811525574.5

公布日：2019-06-21

申请人：江苏大学;斯威本科技大学

一种控制显示屏显示的方法和装置及一种触摸屏

专利号：CN201810438726.1

公布日：2022-01-07

申请人：上海歌尔泰克机器人有限公司

兴趣点失效确定方法、装置、设备和介质

专利号：CN202010182736.0

公布日：2021-09-17

申请人：百度在线网络技术（北京）有限公司

半导体器件失效分析方法、装置、设备及存储介质

专利号：CN202010826866.3

公布日：2022-02-22

申请人：中兴通讯股份有限公司;西安电子科技大学

一种具有透光图案的电容式按键

专利号：CN201420475458.8

公布日：2015-01-28

申请人：汕头超声显示器技术有限公司

于失效分析中观察失效区域的样品制作方法

专利号：CN202011341189.2

公布日：2022-06-10

申请人：华星光通科技股份有限公司

存储器失效点的定位方法

专利号：CN201911393029.X

公布日：2021-12-17

申请人：长江存储科技有限责任公司

一种失效分析定位方法

专利号：CN201810619924.8

公布日：2018-11-30

申请人：上海华力微电子有限公司

芯片逻辑地址到物理地址的转换方法和装置

专利号：CN201410425355.5

公布日：2014-11-19

申请人：上海华虹宏力半导体制造有限公司

一种基于芯片针脚测试的失效分析方法和装置

专利号：CN202310629365.X

公布日：2023-08-29

申请人：成都海光微电子技术有限公司

一种晶圆失效的分析方法及系统

专利号：CN202011419830.X

公布日：2021-05-14

申请人：晶芯成（北京）科技有限公司

存储器芯片的失效分析方法

专利号：CN201910972844.5

公布日：2021-04-13

申请人：长江存储科技有限责任公司

失效位元的修补方法及装置

专利号：CN202010833678.3

公布日：2023-09-12

申请人：长鑫存储技术有限公司