一种寄存器测试方法及系统

专利号：CN201910181369.X

公布日：2019-06-21

申请人：中电海康无锡科技有限公司

一种寄存器测试方法、装置、电子设备及存储介质

专利号：CN202311189420.4

公布日：2023-10-24

申请人：北京燧原智能科技有限公司

一种寄存器测试的方法和系统

专利号：CN200710175434.5

公布日：2008-02-27

申请人：北京中星微电子有限公司

存储器测试电路

专利号：CN202011478692.2

公布日：2022-06-17

申请人：瑞昱半导体股份有限公司

一种寄存器测试方法和装置

专利号：CN202310027210.9

公布日：2023-04-11

申请人：篆芯半导体（南京）有限公司

测试装置及测试方法

专利号：CN200410034722.5

公布日：2005-11-02

申请人：华为技术有限公司

芯片寄存器的测试方法、装置、电子设备及存储介质

专利号：CN202310786563.7

公布日：2023-10-03

申请人：上海孤波科技有限公司

芯片测试方法、装置、设备及存储介质

专利号：CN202210195949.6

公布日：2022-06-14

申请人：长鑫存储技术有限公司

一种数字逻辑自动测试装置及方法

专利号：CN201910821735.3

公布日：2020-11-17

申请人：芯创智（北京）微电子有限公司

芯片和芯片测试方法

专利号：CN201910796124.8

公布日：2022-03-22

申请人：江苏芯盛智能科技有限公司

用于利用寄存器组来测试半导体芯片的方法

专利号：CN200510128579.0

公布日：2006-07-19

申请人：因芬尼昂技术股份公司

一种EDA验证阶段的寄存器测试方法

专利号：CN201711067061.X

公布日：2021-06-29

申请人：中国电子科技集团公司第五十四研究所

借助于位掩码来测试半导体芯片的方法

专利号：CN200510128583.7

公布日：2006-07-19

申请人：因芬尼昂技术股份公司

用于逻辑电路的全速测试的系统芯片及其操作方法

专利号：CN201911232389.1

公布日：2020-07-17

申请人：三星电子株式会社

一种芯片寄存器提取及测试方法

专利号：CN202111182479.1

公布日：2021-12-17

申请人：芯河半导体科技（无锡）有限公司