测试孔

专利号：CN202230075544.X

公布日：2022-06-17

申请人：汤威军

无孔测试杯

专利号：CN200810159656.2

公布日：2010-06-16

申请人：杨西红

RF测试孔结构

专利号：CN201120383263.7

公布日：2012-05-30

申请人：沈阳晨讯希姆通科技有限公司

无孔测试杯

专利号：CN200820225275.5

公布日：2009-10-21

申请人：杨西红

半孔测试针

专利号：CN202130521025.7

公布日：2021-12-14

申请人：新高度（长沙）家居有限公司

半孔测试针

专利号：CN202130521030.8

公布日：2021-12-14

申请人：新高度（长沙）家居有限公司

半孔测试针

专利号：CN202130698821.8

公布日：2022-02-22

申请人：新高度(长沙)家居有限公司

半孔测试针

专利号：CN202130700305.4

公布日：2022-02-22

申请人：新高度(长沙)家居有限公司

半孔测试针

专利号：CN202130702134.9

公布日：2022-02-22

申请人：新高度(长沙)家居有限公司

半孔测试针

专利号：CN202130744706.X

公布日：2022-03-04

申请人：新高度(长沙)家居有限公司

半孔测试针

专利号：CN202130773556.5

公布日：2022-04-08

申请人：新高度(长沙)家居有限公司

深孔定向测试装置及深孔振动测试方法

专利号：CN201910389719.1

公布日：2019-07-16

申请人：上海勘察设计研究院（集团）有限公司

通孔电阻测试结构与测试通孔电阻的方法

专利号：CN202210642551.2

公布日：2022-09-16

申请人：长江存储科技有限责任公司

一种接触孔测试结构和接触孔测试方法

专利号：CN202310345608.7

公布日：2023-06-23

申请人：上海积塔半导体有限公司

硅通孔测试结构以及硅通孔短路测试方法

专利号：CN202210247673.1

公布日：2023-09-22

申请人：长鑫存储技术有限公司