一种物理版图分割的方法

专利号：CN201010230163.0

公布日：2012-02-01

申请人：中国科学院微电子研究所

模拟和射频集成电路的物理设计方法

专利号：CN02158183.5

公布日：2004-07-07

申请人：北京艾克赛利微电子技术有限公司

一种对称电路物理版图分割的方法

专利号：CN201010230164.5

公布日：2012-02-01

申请人：中国科学院微电子研究所

一种集成电路物理版图生成方法及装置

专利号：CN201810174482.0

公布日：2018-08-14

申请人：京东方科技集团股份有限公司

版图中光刻坏点的检测修复方法、系统及计算机介质

专利号：CN202310030409.7

公布日：2023-05-05

申请人：华芯巨数（杭州）微电子有限公司

版图的验证方法、装置、设备和存储介质

专利号：CN202010817453.9

公布日：2020-12-11

申请人：上海华虹宏力半导体制造有限公司

一种优化集成电路版图热分布的方法

专利号：CN201010216481.1

公布日：2012-01-11

申请人：中国科学院微电子研究所

多线网之间物理短路位置的自动定位方法

专利号：CN200910312941.8

公布日：2011-07-06

申请人：中国科学院微电子研究所

一种优化集成电路版图电磁分布的方法

专利号：CN201010214250.7

公布日：2012-01-11

申请人：中国科学院微电子研究所

一种提高布图效率的模拟集成电路版图的设计方法

专利号：CN201310196954.X

公布日：2013-08-28

申请人：中国兵器工业集团第二一四研究所苏州研发中心

一种参数化器件单元的快速实体化方法

专利号：CN201010238054.3

公布日：2012-02-01

申请人：中国科学院微电子研究所

一种标准单元及其建立、使用方法

专利号：CN201310537891.X

公布日：2017-01-04

申请人：中国科学院微电子研究所

一种寄生电阻电容参数提取方法及装置

专利号：CN202180094788.5

公布日：2023-10-20

申请人：华为技术有限公司

自动布局布线方法

专利号：CN202111399551.6

公布日：2022-01-14

申请人：上海华力集成电路制造有限公司

设计集成电路的方法

专利号：CN201510967307.3

公布日：2019-04-19

申请人：联发科技股份有限公司