结构变体分析

专利号：CN201880086046.6

公布日：2020-08-21

申请人：多弗泰尔基因组学有限责任公司

多维结构分析

专利号：CN03812890.X

公布日：2005-08-24

申请人：皇家飞利浦电子股份有限公司

多步生化分析的分析结构

专利号：CN202180030538.5

公布日：2023-01-31

申请人：脱其泰有限责任公司

芯片结构分析方法

专利号：CN202211062943.8

公布日：2022-11-15

申请人：长电科技（宿迁）有限公司

外延缺陷分析结构

专利号：CN201220641783.8

公布日：2013-05-01

申请人：杭州士兰集成电路有限公司;成都士兰半导体制造有限公司

分析装置的进出仓结构、分析装置及分析系统

专利号：CN202180000981.8

公布日：2022-12-30

申请人：京东方科技集团股份有限公司;北京京东方技术开发有限公司

芯片装载结构、分析装置及分析系统

专利号：CN202180000986.0

公布日：2023-03-03

申请人：京东方科技集团股份有限公司;北京京东方技术开发有限公司

分析系统、分析方法及其流路结构

专利号：CN200910173550.2

公布日：2011-04-20

申请人：财团法人工业技术研究院

分析系统及其分析方法、流路结构

专利号：CN200810109929.2

公布日：2009-12-16

申请人：财团法人工业技术研究院

半导体结构的分析方法及分析装置

专利号：CN202010517129.5

公布日：2021-03-30

申请人：长江存储科技有限责任公司

半导体结构的分析方法及分析装置

专利号：CN202011525982.8

公布日：2021-12-17

申请人：长江存储科技有限责任公司

导流罩结构分析方法、装置、设备及存储介质

专利号：CN202211481850.9

公布日：2023-03-28

申请人：东风柳州汽车有限公司

分析离子结构的方法

专利号：CN201410454208.0

公布日：2016-03-23

申请人：北京理工大学

使用层次结构分析数据

专利号：CN201610206769.8

公布日：2019-12-10

申请人：美光科技公司

失效分析方法及结构

专利号：CN202010095996.4

公布日：2021-11-02

申请人：长江存储科技有限责任公司