良率检测模型及其获取方法、检测良率分布的方法

专利号：CN202211581850.6

公布日：2023-05-09

申请人：上海华虹宏力半导体制造有限公司

半导体产品的良率分析方法及良率分析系统

专利号：CN202011384551.4

公布日：2021-03-02

申请人：晶芯成（北京）科技有限公司

SMT良率优化方法

专利号：CN202211701934.9

公布日：2023-05-02

申请人：江西省昌大光电科技有限公司

DRAM良率分析系统

专利号：CN201811163264.3

公布日：2021-08-13

申请人：长鑫存储技术有限公司

良率报警装置

专利号：CN201220380548.X

公布日：2013-01-23

申请人：东莞利扬微电子有限公司

高良率的模具

专利号：CN201921108599.5

公布日：2020-06-23

申请人：深圳市年盛兴科技有限公司

新增生产工具的合格检验方法和检验系统

专利号：CN202010945285.1

公布日：2022-03-29

申请人：长鑫存储技术有限公司

一种快速确定晶圆系统良率和随机良率的方法

专利号：CN202211455393.6

公布日：2023-03-24

申请人：浙江大学

产品良率分析系统及方法

专利号：CN200510130508.4

公布日：2006-06-21

申请人：台湾积体电路制造股份有限公司

产品良率监控方法、装置及计算机可读存储介质

专利号：CN201811379295.2

公布日：2023-08-01

申请人：鸿富锦精密电子（成都）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司

用于分析测量-良率相关性的方法和系统

专利号：CN201780063057.8

公布日：2023-07-21

申请人：SK 株式会社

良率分析的方法、装置和计算机可读存储介质

专利号：CN202010172049.0

公布日：2023-10-13

申请人：全芯智造技术有限公司

一种测试良率管控方法、系统、计算机设备及存储介质

专利号：CN202310323263.5

公布日：2023-07-07

申请人：上海芯丑半导体设备有限公司

装配良率控制方法、设备及计算机可读存储介质

专利号：CN202111224221.3

公布日：2022-02-15

申请人：深圳市信润富联数字科技有限公司

产品良率预测方法、装置、计算机装置及存储介质

专利号：CN201911149655.4

公布日：2021-05-21

申请人：鸿富锦精密电子（成都）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司