特性评价装置、特性评价系统、特性评价方法和特性评价程序

专利号：CN201580055845.3

公布日：2017-08-18

申请人：欧姆龙株式会社;国立大学法人九州大学

特性判定装置、特性判定方法以及特性判定程序

专利号：CN201910875798.7

公布日：2020-03-27

申请人：发那科株式会社

特性评价装置以及特性评价方法

专利号：CN200610126601.2

公布日：2007-03-07

申请人：株式会社日立制作所

喷嘴特性

专利号：CN201780085701.1

公布日：2021-08-03

申请人：惠普发展公司;有限责任合伙企业

表面特性评估方法、表面特性评估装置和表面特性评估程序

专利号：CN202080051178.2

公布日：2022-03-04

申请人：株式会社理光

表面特性评价方法、表面特性评价装置以及表面特性评价系统

专利号：CN201880046491.X

公布日：2023-10-27

申请人：新东工业株式会社

表面特性检查装置、表面特性检查系统以及表面特性检查方法

专利号：CN201480010057.8

公布日：2015-11-18

申请人：新东工业株式会社

特性测量装置和特性测量方法

专利号：CN202010921223.7

公布日：2021-03-12

申请人：三星显示有限公司

特性评估系统、特性评估方法和程序

专利号：CN201911156900.4

公布日：2023-07-07

申请人：株式会社安川电机

特性表生成系统、特性表生成方法及特性表生成程序

专利号：CN202111538732.2

公布日：2022-06-17

申请人：精工电子打印科技有限公司

光纤特性测定装置、光纤特性测定程序以及光纤特性测定方法

专利号：CN202180047743.2

公布日：2023-03-28

申请人：横河电机株式会社

取向特性测定方法、取向特性测定程序及取向特性测定装置

专利号：CN202210809067.4

公布日：2022-10-25

申请人：浜松光子学株式会社

取向特性测定方法、取向特性测定程序及取向特性测定装置

专利号：CN201780091062.X

公布日：2022-07-29

申请人：浜松光子学株式会社

光传输特性估计方法、光传输特性补偿方法、光传输特性估计系统及光传输特性补偿系统

专利号：CN201780087386.6

公布日：2021-11-12

申请人：NTT电子株式会社;日本电信电话株式会社

电特性测量用样本、电特性测量装置和电特性测量方法

专利号：CN201680080968.7

公布日：2022-08-09

申请人：索尼公司