量测装置、量测补偿系统、量测方法及量测补偿方法

专利号：CN202110769250.1

公布日：2023-01-13

申请人：长鑫存储技术有限公司

光学量测系统、光学量测装置及其量测方法

专利号：CN201710598582.1

公布日：2020-10-16

申请人：镱钛科技股份有限公司

量测手套及量测系统

专利号：CN201410448861.6

公布日：2016-04-06

申请人：华邦电子股份有限公司

量测系统与量测方法

专利号：CN201711187635.7

公布日：2018-04-27

申请人：英业达科技有限公司;英业达股份有限公司

量测装置及量测方法

专利号：CN201911297503.9

公布日：2021-06-18

申请人：亚智科技股份有限公司

量测设备和量测方法

专利号：CN202180087931.8

公布日：2023-08-29

申请人：ASML荷兰有限公司

量测装置及其量测方法

专利号：CN201410008791.2

公布日：2017-09-29

申请人：扬智科技股份有限公司

量测设备及量测方法

专利号：CN200910301385.4

公布日：2010-10-13

申请人：鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司

量测装置与量测方法

专利号：CN201310395566.4

公布日：2014-06-11

申请人：财团法人纺织产业综合研究所

量测方法与量测装置

专利号：CN201110077221.5

公布日：2012-09-26

申请人：财团法人工业技术研究院

量测装置及量测方法

专利号：CN202010545961.6

公布日：2022-06-10

申请人：深圳市裕展精密科技有限公司

量测设备及量测方法

专利号：CN201310074517.0

公布日：2013-07-10

申请人：爱司帝光电科技(苏州)有限公司

量测装置及其量测方法

专利号：CN201110322575.1

公布日：2013-04-24

申请人：中央大学

量测装置及量测方法

专利号：CN200610064624.5

公布日：2008-07-02

申请人：深圳富泰宏精密工业有限公司

磁场量测方法、磁场量测系统及磁场量测设备

专利号：CN202211532338.2

公布日：2023-08-22

申请人：鸿海精密工业股份有限公司