本实用新型公开了一种材质测试用半导体制冷设备,属于半导体制冷技术领域,一种材质测试用半导体制冷设备,包括测试箱,测试箱前后内壁固定连接有分隔板,分隔板内安装有半导体制冷片,半导体制冷片左右两端分别时散热端和制冷端,测试箱左端开凿有一对插孔,插孔内插设有螺纹杆,螺纹杆左端固定连接有手推板,分隔板外端开凿有两个关于半导体制冷片对称的交流孔,螺纹杆远离手推板的一端固定连接有封板,封板位于分隔板右侧,可以实现对材料低温测试后,通过将半导体制冷片的制冷端中的冷空气导入到放热端内的热空气中,从而可以加快半导体制冷片的两端的温度恢复的速度,从而可以提高对材料测试的效率。
1.一种材质测试用半导体制冷设备,包括测试箱(1),其特征在于:所述测试箱(1)前后内壁固定连接有分隔板(2),所述分隔板(2)内安装有半导体制冷片(3),所述半导体制冷片(3)左右两端分别时散热端和制冷端,所述测试箱(1)左端开凿有一对插孔(4),所述插孔(4)内插设有螺纹杆(5),所述螺纹杆(5)左端固定连接有手推板(6),所述分隔板(2)外端开凿有两个关于半导体制冷片(3)对称的交流孔(7),所述螺纹杆(5)远离手推板(6)的一端固定连接有封板(8),所述封板(8)位于分隔板(2)右侧,所述螺纹杆(5)外端螺纹连接有螺母(9),所述螺母(9)位于测试箱(1)左侧,所述螺纹杆(5)外端固定连接有挡环(10),所述挡环(10)与测试箱(1)内壁之间固定连接有压缩弹簧(11),所述压缩弹簧(11)位于螺纹杆(5)外侧。
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/tech/sell/s_228220.html,转载请声明来源钻瓜专利网。