[实用新型]一种辅助测试硅片电阻率的模具有效

专利信息
申请号: 201821875449.2 申请日: 2018-11-14
公开(公告)号: CN209513913U 公开(公告)日: 2019-10-18
发明(设计)人: 马飞 申请(专利权)人: 内蒙古中环领先半导体材料有限公司
主分类号: G01R27/08 分类号: G01R27/08;G01R1/04
代理公司: 天津诺德知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 12213 代理人: 栾志超
地址: 010070 内蒙古自*** 国省代码: 内蒙古;15
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摘要:
搜索关键词: 测试孔 边缘点 中心点 模具本体 硅片 模具 硅片电阻率 辅助测试 本实用新型 电阻率检测 生产成本低 中心放射状 测试效率 点测试法 圆柱形片 测试点 长条状 上表面 圆柱孔 状物 测试 检测 配合
【权利要求书】:

1.一种辅助测试硅片电阻率的模具,包括模具本体,其特征在于:所述模具本体为圆柱形片状物,所述模具本体上设有测试孔,所述测试孔包括中心点测试孔和边缘点测试孔,所述中心点测试孔为圆柱孔,所述中心点测试孔置于所述模具本体中心部位,所述边缘点测试孔为长条状,所述边缘点测试孔包括四条,所述边缘点测试孔以所述中心点测试孔为中心放射状分布,四条所述边缘点测试孔呈“十”字形分布,所述边缘点测试孔内设有限位装置。

2.根据权利要求1所述的一种辅助测试硅片电阻率的模具,其特征在于:所述限位装置包括限位挡片和限位弹簧,所述限位挡片置于所述边缘点测试孔内,所述限位弹簧一端连接所述限位挡片,所述限位弹簧另一端连接所述模具本体边缘处。

3.根据权利要求2所述的一种辅助测试硅片电阻率的模具,其特征在于:所述限位挡片背对所述中心点测试孔的一端连接所述限位弹簧,所述限位挡片正对所述中心点测试孔的一端设有防滑装置。

4.根据权利要求1至3任一所述的一种辅助测试硅片电阻率的模具,其特征在于:所述模具本体上设有刻度线,所述刻度线以所述中心点测试孔为中心呈环状分布,所述刻度线为多条,所述刻度线之间设有间距L。

5.根据权利要求4所述的一种辅助测试硅片电阻率的模具,其特征在于:所述间距L的尺寸为1mm。

6.根据权利要求4所述的一种辅助测试硅片电阻率的模具,其特征在于:所述刻度线处设有标识物。

7.根据权利要求1或2所述的一种辅助测试硅片电阻率的模具,其特征在于:所述边缘点测试孔距离所述模具本体的边缘处设有间距H。

8.根据权利要求7所述的一种辅助测试硅片电阻率的模具,其特征在于:所述间距H的尺寸为1mm。

9.根据权利要求7所述的一种辅助测试硅片电阻率的模具,其特征在于:所述边缘点测试孔距离所述中心点测试孔设有间距D。

10.根据权利要求9所述的一种辅助测试硅片电阻率的模具,其特征在于:所述间距D的尺寸为1mm。

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