[实用新型]一种二极管新型测试片

说明书

本实用新型公开了一种二极管新型测试片，包括第一测试片、第二测试片、第三测试片、第四测试片和放置台，第一测试片的端部设有第一测试片头部测试块，第一测试片上设有第一螺丝锁孔、测试片定位孔和第二螺丝锁孔，第二测试片的端部设有第二测试片头部测试块，整组测试片采用第一测试片和第二测试片，第三测试片和第四测试片组合，组合间的间隙可调，满足不同宽度的被测引脚需求；测试片组合凹槽垂直角被磨损后，还可以通过磨修与组合间隙调整来延长测试片的使用次数，节约成本，测试片通过定位孔与双螺孔设计搭配，定位准确、安装快速，调节方便、并且不会短接。

技术领域

本实用新型涉及二极管技术领域，具体为一种二极管新型测试片。

背景技术

二极管在封装应用之前要经过专业仪表的电参数测试，经测试将达不到要求或者缺陷的不良器件剔除。根据二极管的封装形式及测试特性，会在仪表引出4-8根不等的测试线与引脚连接，接触端就是测试片；在设计上，测试片也会根据二极管的封装外型及配套一贯机的自动测试机械有所不同。测试中有诸多的因素影响到器件的测试精度，如，测试时间、温度、湿度、测试标准，测试线的接触状态，器件与测试片的接触状态等。首先二极管在测试中与测试片的接触状态是真实准确地反应测试结果的首要因素，应用中，测试片与二极管的接触不良是一种故障状态，在测试结果反映上，如RC测试不良、接触打火、测试片间短路等。由于这些故障状态，器件即便是良品，也被误判为不良；而器件与测试片接触不良产生的高压打火，冲击后造成的隐形失效，使后续失效分析无法准确的定位致因，也给企业带来诸多的经济赔偿成本；测试片间短路，相当于测试仪表AS/AP或者BP/BS间的短路，是提前短接测试片与二极管器件的接触电阻，其混淆了测试分类的不良状态，使制程控制人员无法准确地分析不良信息，在统计结果上出现偏差，给不良分析造成错误的导向。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种二极管新型测试片，以解决测试片适应能力低的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种二极管新型测试片，包括第一测试片、第二测试片、第三测试片、第四测试片和放置台，所述第一测试片的端部设有第一测试片头部测试块，所述第一测试片上设有第一螺丝锁孔、测试片定位孔和第二螺丝锁孔，所述第二测试片的端部设有第二测试片头部测试块，所述第一测试片头部测试块和第二测试片头部测试块之间组合成测试片组合凹槽，所述第三测试片的端部设有第三测试片头部测试块，所述第四测试片的端部设有第四测试片头部测试块。

优选的，所述第一测试片、第二测试片、第三测试片和第四测试片采用铍铜材质，厚度为0.45mm。

优选的，所述第一螺丝锁孔和第二螺丝锁孔对称设置。

优选的，所述放置台的上端接触连接有二极管，所述二极管上设有引脚。

优选的，所述引脚的端部与第一测试片和第二测试片接触连接。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：1.整组测试片采用第一测试片和第二测试片，第三测试片和第四测试片组合，组合间的间隙可调，满足不同宽度的被测引脚需求；测试片组合凹槽垂直角被磨损后，还可以通过磨修与组合间隙调整来延长测试片的使用次数，节约成本。测试片通过定位孔与双螺孔设计搭配，定位准确、安装快速，调节方便、并且不会短接。

2.可以避免应用中的接触不良，保证接触面积，减小接触电阻，排除对测试精度的影响；组合后凹槽为平底面，定位准，避免机械因素导致的接触抖动，杜绝测试打火；并且组合间隙可控，测试片间不短路，排除测试干扰和误判，保证测试良品率及制程分析导向，适宜广泛推广使用。

附图说明

图1为本实用新型的整体结构示意图；

图2为本实用新型的第一测试片结构示意图；

图3为本实用新型的第二测试片结构示意图；