[发明专利]测试装置以及写入控制电路有效
申请号: | 200480026143.4 | 申请日: | 2004-09-10 |
公开(公告)号: | CN1849519A | 公开(公告)日: | 2006-10-18 |
发明(设计)人: | 佐藤浩 | 申请(专利权)人: | 爱德万测试株式会社 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G06F1/04 |
代理公司: | 北京连和连知识产权代理有限公司 | 代理人: | 胡光星 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种写入控制电路,为一种将从多个主计算机所接收的多个命令数据写入多个寄存器部的写入控制电路。该写入控制电路包括多个要求信号保存部、主选择部与写入部。要求信号保存部与上述这些主计算机对应设置,并保存来自对应的主计算机的写入要求信号。主选择部依次选择多个要求信号保存部,且接收并输出所选择的要求信号保存部保存的保存数据。写入部接收主选择部输出的保存数据、应写入寄存器部的命令数据、及用于寄存器部指定数据,其中寄存器部指定数据是用来指定一个用来指定写入命令数据的寄存器部。当写入部所接收的保存数据为写入要求信号时,向由寄存器部指定数据所指定的寄存器部写入命令数据。 | ||
搜索关键词: | 测试 装置 以及 写入 控制电路 | ||
【主权项】:
1.一种写入控制电路,为一种将从多个主计算机所接收的多个命令数据写入多个寄存器部的写入控制电路,其特征是包括:多个要求信号保存部,与上述这些主计算机对应设置,并保存来自对应的上述这些主计算机的写入要求信号;主选择部,依次选择上述这些要求信号保存部,且接收并输出所选择的上述这些要求信号保存部保存的保存数据;以及写入部,接收该主选择部输出的上述这些保存数据、应写入上述这些寄存器部的上述这些命令数据、及用于指定应写入上述这些命令数据的上述这些寄存器部的寄存器部指定数据,当所接收的上述这些保存数据为上述这些写入要求信号时,向由上述这些寄存器部指定数据所指定的上述这些寄存器部写入上述这些命令数据。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于爱德万测试株式会社,未经爱德万测试株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200480026143.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。