[发明专利]集成电路芯片上的集成斜坡,扫描分数频率合成器有效

专利信息
申请号: 200980122499.0 申请日: 2009-05-05
公开(公告)号: CN102067453A 公开(公告)日: 2011-05-18
发明(设计)人: M·M·克鲁蒂埃;T·里潘 申请(专利权)人: 赫梯特微波公司
主分类号: H03L7/06 分类号: H03L7/06
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 金晓
地址: 美国马*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明涉及一种在集成电路芯片上集成斜坡扫描分数频率合成器,它包括一个分数频率合成器,它带有响应VCO和Δ∑调制器用以修正分数分频器的除数的分数分频器;在相同的集成电路芯片上的斜坡发生器,斜坡发生器响应触发信号以产生斜坡,用来扫描所述分数频率合成器的频率。
搜索关键词: 集成电路 芯片 集成 斜坡 扫描 分数 频率 合成器
【主权项】:
一种集成电路芯片上的集成斜坡扫描分数频率合成器系统,包括:分数分频器;集成电路芯片,包含具有Δ∑型或其它类型的调制器的分数频率合成器,用来修正所述分数分频器的除数;位于所述相同集成电路芯片上的斜坡发生器;所述斜坡发生器响应于触发信号产生用于扫描所述分数频率合成器的频率的斜坡,和接口电路,响应于外部控制器,控制所述斜坡发生器和所述调制器。
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