[发明专利]一种测量封闭空腔金属器具内壁温度分布的方法有效
| 申请号： | 201410342959.3 | 申请日： | 2014-07-17 |
| 公开（公告）号： | CN104101432A | 公开（公告）日： | 2014-10-15 |
| 发明（设计）人： | 张向宇;张波;向小凤;徐宏杰;周怀春 | 申请（专利权）人： | 中国华能集团公司;西安热工研究院有限公司 |
| 主分类号： | G01J5/00 | 分类号： | G01J5/00 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 蔡和平 |
| 地址： | 100031 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明一种测量封闭空腔金属器具内壁温度分布的方法，包括如下步骤，1)通过黑体炉对红外CCD摄像机和光谱仪进行标定，建立光谱信号与辐射强度信号间的对应关系；2)利用光谱仪接收金属表面在不同波长下的辐射光谱信号，由标定数据计算出参考点温度及辐射率；3)利用红外CCD摄像机拍摄金属表面红外辐射图像，根据每个像素点与参考点的单色辐射强度比值，计算得到金属表面温度分布图像，即为金属表面真实温度分布。通过光谱仪获得辐射源在多波段下的辐射能量信息，计算得到辐射源温度和辐射率随波长变化曲线；由红外CCD摄像机捕捉辐射源表面多点的辐射能量信息，通过引入光谱仪测量点作为参考点，实现了辐射源表面温度分布的精确测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 封闭 空腔 金属 器具 内壁 温度 分布 方法 | ||
【主权项】：
一种测量封闭空腔金属器具内壁温度分布的方法，其特征在于，包括如下步骤，1)通过黑体炉对红外CCD摄像机(1)和光谱仪(3)进行标定，建立光谱信号与辐射强度信号间的对应关系；2)利用光谱仪(3)接收金属表面(5)在不同波长下的辐射光谱信号，由标定数据计算出参考点温度及辐射率；3)利用红外CCD摄像机(1)拍摄金属表面(5)红外辐射图像，根据每个像素点与参考点的单色辐射强度比值，计算得到金属表面(5)温度分布图像，即为金属表面(5)真实温度分布。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国华能集团公司;西安热工研究院有限公司，未经中国华能集团公司;西安热工研究院有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410342959.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
