[发明专利]一种获取岩石地层因素的方法有效
申请号: | 201510388742.0 | 申请日: | 2015-07-06 |
公开(公告)号: | CN106321087B | 公开(公告)日: | 2019-05-07 |
发明(设计)人: | 张军;李军;苏俊磊;武清钊;南泽宇;郝士博;王晓畅 | 申请(专利权)人: | 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院 |
主分类号: | E21B49/00 | 分类号: | E21B49/00 |
代理公司: | 北京聿宏知识产权代理有限公司 11372 | 代理人: | 张文娟;朱绘 |
地址: | 100728 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种获取岩石地层因素的方法,根据对岩石地层因素影响程度不同的两种孔隙结构对应的孔隙度计算获取所述岩石地层因素,所述方法包括以下步骤:根据阿尔奇公式构造阿尔奇公式改进式,在所述阿尔奇公式改进式中,所述岩石地层因素与所述两种孔隙结构对应的孔隙度相关;根据所述阿尔奇公式改进式获取所述岩石地层因素。与现有技术相比,本发明可以获取更为符合实际地质情况的岩石地层因素,从而大大提高了地质勘探结果的准确性,为之后的油气勘探开发提供更为准确有力的支持。 | ||
搜索关键词: | 岩石地层 改进式 孔隙结构 孔隙度 油气勘探开发 地质勘探 公式构造 因素影响 地质 | ||
【主权项】:
1.一种获取岩石地层因素的方法,其特征在于,根据对岩石地层因素影响程度不同的两种孔隙结构对应的孔隙度计算获取所述岩石地层因素,所述方法包括以下步骤:根据阿尔奇公式构造阿尔奇公式改进式,在所述阿尔奇公式改进式中,所述岩石地层因素与所述两种孔隙结构对应的孔隙度相关;根据所述阿尔奇公式改进式获取所述岩石地层因素;其中,在构造所述阿尔奇公式改进式的过程中,定义宏导电孔隙,所述宏导电孔隙对应的孔隙度为宏导电孔隙度,其中:将所述两种孔隙结构分别折算为所述宏导电孔隙,基于如下表达式,以得到所述宏导电孔隙度,φs=cxφx+cnφn其中,表示宏导电孔隙度,φx、φn分别对应表示两种孔隙结构的孔隙度,cx、cn分别对应表示两种孔隙结构的折算比例;在双对数坐标下所述宏导电孔隙度与所述岩石地层因素呈现单一的线性关系。
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