[发明专利]用于测试光敏设备降级的系统和方法有效
| 申请号： | 201680065103.3 | 申请日： | 2016-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN108352809B | 公开（公告）日： | 2019-11-05 |
| 发明（设计）人： | M·D·埃尔文;J·拉芙莱斯;K·梅尔扎里克 | 申请（专利权）人： | 熙太阳能有限责任公司 |
| 主分类号： | H02S50/10 | 分类号： | H02S50/10;G09G3/00;H05B33/10 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 申发振 |
| 地址： | 美国得*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 可以通过配置光敏设备测试系统来测试光敏设备随时间的性能，所述光敏设备测试系统包括将容器内的光敏设备暴露于指定光强度的光源板。光强度可以根据一个或多个阈值通过可编程电源来调节。测试可以持续设置的持续时间，并且在整个持续时间内以预定间隔进行性能测量。可以记录来自光敏设备测试系统的反馈，以确定是否增加光强度、停止测试、继续测试以及是否应当更改一个或多个环境条件。测量结果可以被发送到客户端进行分析和向用户显示。 | ||
| 搜索关键词： | 光敏设备 测试系统 测试 可编程电源 停止测试 性能测量 用户显示 预定间隔 光源板 客户端 降级 反馈 暴露 记录 配置 分析 | ||
【主权项】：
1.一种用于光敏设备的降级测试的方法，包括：初始化一个或多个降级测试参数；设置光源的光强度，其中光源以设置的光强度将一个或多个光敏设备曝光；对所述一个或多个光敏设备的像素请求像素性能测量，其中每个光敏设备的每个像素被映射到唯一的地址，并且其中至少部分地基于持续时间阈值来请求像素性能测量；接收像素性能测量结果；将像素性能测量结果与性能等级阈值进行比较；至少部分地基于像素性能测量结果与性能等级阈值的比较来确定像素是否发生故障；标记与像素相关联的测试指示器，其中测试指示器指示像素的故障的确定；以及确定是否需要进一步测试，其中确定是否需要进一步测试至少部分地基于与像素相关联的测试指示器。
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