[发明专利]微波共面测试探针及其制作方法有效
| 申请号： | 201710392364.2 | 申请日： | 2017-05-27 |
| 公开（公告）号： | CN107315098B | 公开（公告）日： | 2019-09-17 |
| 发明（设计）人： | 李静强;胡志富;彭志农;刘亚男;曹健;冯彬;杜光伟;何美林 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第十三研究所 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067 |
| 代理公司： | 石家庄国为知识产权事务所 13120 | 代理人： | 赵宝琴 |
| 地址： | 050051 *** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种微波共面测试探针及其制作方法，属于微波通讯器件技术领域。本发明包括同轴设置的外导体和内导体，在外导体和内导体之间设有绝缘层，外导体的端部设有转接器，内导体向外延伸形成信号线触头，外导体向外延伸形成两个地线触头，两个地线触头相对于信号线触头对称。该探针具有制作简单、成本低廉、维修便利的特点。 | ||
| 搜索关键词： | 微波 测试 探针 及其 制作方法 | ||
【主权项】：
1.一种微波共面测试探针，包括同轴设置的外导体(2)和内导体(3)，在外导体(2)和内导体(3)之间设有绝缘层(4)，外导体(2)的端部设有转接器(1)，其特征在于，所述内导体(3)向外延伸形成信号线触头(7)，所述外导体(2)向外延伸形成两个地线触头(6)，两个地线触头(6)相对于信号线触头(7)对称；两个地线触头(6)和一个信号线触头(7)的接触面(8)处于同一个平面；所述接触面(8)与外导体(2)和内导体(3)的轴线所在的平面成锐角；所述锐角为20°‑70°之间；所述接触面(8)的背侧为斜面，所述斜面与接触面(8)分设在外导体(2)和内导体(3)的轴线所在的平面的两侧。
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