[发明专利]一种计量误差影响因素单因素定量分析方法有效
申请号: | 201710739779.2 | 申请日: | 2017-08-25 |
公开(公告)号: | CN107515381B | 公开(公告)日: | 2019-11-05 |
发明(设计)人: | 魏明;贾兴林 | 申请(专利权)人: | 成都思晗科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R35/04 | 分类号: | G01R35/04;G06F17/10;G06F17/18 |
代理公司: | 成都点睛专利代理事务所(普通合伙) 51232 | 代理人: | 李玉兴 |
地址: | 610041 四川省成都市*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明公开了一种可以实现定量描述的计量误差影响因素单因素定量分析方法。该计量误差影响因素单因素定量分析方法通过获取大量的单因素数据,在大量单因素数据的基础上通过异常值处理、无量纲化处理、离散化处理和合理的分析算法对电能表的计量误差影响因素进行定量分析,克服了定性分析存在的定量不足,可以准确得到单因素对计量误差的影响程度,并通过数值量化反应,可以直观的显示单因素对计量误差的影响大小。适合在电能表计量技术领域推广应用。 | ||
搜索关键词: | 单因素 计量误差 定量分析 影响因素 无量纲化处理 定性分析 电能表计量 离散化处理 分析算法 数值量化 电能表 直观 | ||
【主权项】:
1.一种计量误差影响因素单因素定量分析方法,其特征在于包括以下步骤:1)、获取计量误差影响因素单因素数据集合{di,d,k}以及计量误差数据集合{Ye},其中下标i表示第i个电能表,下标d表示第d个时间窗口,所述时间窗口为天或小时或分钟,k表示第d个时间窗口内第k个观察记录,Ye表示di,d,k所对应的计量误差值;2)、对获取的单因素数据集合{di,d,k}进行异常值处理;具体处理方法如下:将获取的单因素数据di,d,k依次带入如下两个判断公式:若di,d,k同时不满足其中任一判断公式,则该di,d,k数值为正常值,若di,d,k满足其中任意一个判断公式,则该di,d,k数值为异常值,并将该异常的di,d,k值从单因素数据集合{di,d,k}中剔除;同时剔除计量误差数据集合{Ye}中异常的di,d,k所对应的Ye值;3)、对剔除异常值的单因素数据集合{di,d,k}和计量误差数据集合{Ye}进行无量纲化处理,具体分方法如下:将di,d,k依次带入以下公式得到无量纲的单因素数据集合{xi},将Ye依次带入以下公式得到无量纲的计量误差数据集合{Yi},4)、对计量误差数据集合{Yi}进行分箱离散化处理得到计量误差分箱离散化数据label;结合label对单因素数据集合{xi}进行数据离散化处理得到单因素离散数据集合{dxi},将单因素数据集合{xi}进行数据离散化处理得到单因素离散数据集合{dxi}的方法如下:a:定义信息熵计算函数其中nyi表示离散型变量第i个属性值的个数,n表示该离散变量的总个数;b:初始化xi的划分点集合cutindex={};c:确定所有的划分点集合allcutpoints=distinct{xi};d:对allcutpoints的每个划分点pi进行数据划分,并根据公式计算pi划分后的信息熵ei;e:选择max(ei)对应的划分点pimax作为最佳划分点,划分后的信息熵记为eimax;f:对pimax左右两侧的标签变量label分别记为labell、labelr;label、labell、labelr对应的属性数分别与k、kl、kr;label的样本数记为m,计算cond:g:若ent(y)‑eimax>cond,则将pimax添加到cutindex;并对xl xr执行b步骤,否则结束;5)、先将单因素离散数据集合{dxi}与计量误差分箱离散化数据label组成如下所述的矩阵:其中,lidxj(i=1,L,m;j=1,L,n)表示计量误差分箱离散化数据label中第i个属性与单因素离散数据集合{dxi}中第j个属性的样本数量;然后根据以下公式计算得到该单因素与计量误差之间的相关性统计量值χ:其中
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