[发明专利]一种基因测序仪显微物镜的检调焦方法与装置在审

专利信息
申请号: 201711137784.2 申请日: 2017-11-16
公开(公告)号: CN109799595A 公开(公告)日: 2019-05-24
发明(设计)人: 张鑫;宋姗姗;苗亮;乔彦峰 申请(专利权)人: 长光华大基因测序设备(长春)有限公司
主分类号: G02B7/28 分类号: G02B7/28;C12M1/34
代理公司: 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 代理人: 廖金晖;彭家恩
地址: 130033 吉林省长*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明公开了一种基因测序仪显微物镜的检调焦方法和装置,检调焦方法包括如下步骤:照明光透射至基因测序芯片上反射成信号光;第二分光镜将信号光对半透射成第一信号光和反射成第二信号光;第一信号光穿过焦前针孔照射至焦前光强探测器上生成第一光强信号;同时,第二信号光穿过焦后针孔照射至焦后光强探测器上生成第二光强信号;主控系统获取第一光强信号和第二光强信号,并计算出基因测序芯片的实时离焦量;根据实时离焦量控制对焦驱动机构驱动物镜和/或基因测序芯片移动对焦。本检调焦装置简化了光路设计,信号计算处理更为简单,能够快速精确的计算出离焦量,使得物镜能够快速精确的自动对焦。
搜索关键词: 光强信号 基因测序 调焦 针孔 光强探测器 基因测序仪 第二信号 显微物镜 芯片 离焦量 信号光 透射 对焦 物镜 反射 照射 穿过 方法和装置 检调焦装置 光路设计 驱动机构 信号计算 主控系统 自动对焦 分光镜 照明光 驱动 移动
【主权项】:
1.一种基因测序仪显微物镜的检调焦方法,其特征在于,包括如下步骤:点光源发生装置发射的照明光先后通过第一分光镜、准直镜和物镜透射至基因测序芯片上反射成信号光;信号光先后通过物镜和准直镜透射后,经第一分光镜反射至第二分光镜,第二分光镜将信号光对半透射成第一信号光和反射成第二信号光;所述第一信号光穿过位于所述第一信号光聚焦位置前端的焦前针孔照射至焦前光强探测器上,所述焦前光强探测器探测所述第一信号光并实时生成第一光强信号;同时,所述第二信号光穿过位于所述第二信号光聚焦位置后端的焦后针孔照射至焦后光强探测器上,所述焦后光强探测器探测所述第二信号光并实时生成第二光强信号;主控系统获取所述第一光强信号和第二光强信号,并计算出基因测序芯片的实时离焦量;主控系统根据所述实时离焦量控制对焦驱动机构驱动物镜和/或基因测序芯片移动对焦;其中,所述焦前针孔和焦后针孔的离焦量相等。
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